[发明专利]一种TiAl渗层金相试样的制备方法

说明书

技术领域

本发明属于金相制备领域，涉及一种TiAl渗层金相试样的制备方法。

背景技术

DZ40M材料表面渗TiAl后，通常采用普通金相手工制样方法制备金相试样，但由于在手工制备过程中极易造成渗层组织的剥落或者开裂，大大降低了对其组织评定的准确性，甚至会引起误判并造成不必要的损失。因此，获得合理的表面渗TiAl制样技术有着极其重要的意义。

在手工制备DZ40M材料表面渗TiAl后金相试样的过程中，由于人为因素占主导作用，制备过程中，试样的稳定性，试样在操作者手中把持的力度，在金相砂纸或抛光盘上磨、抛的时间，试样制备时对抛光液或抛光膏的选择等种种因素都决定着试样制备最终的质量。而上述因素的不确定性则极大的影响了合理制样程序的制定。

发明内容

本发明要解决的技术问题：一种TiAl渗层金相试样的制备方法，能够防止在制备过程中渗层组织产生剥落或者开裂。

本发明的技术方案：一种TiAl渗层金相试样的制备方法，包括：

将待检测试样放入热镶机中，所述待检测试样的渗TiAl界面与镶嵌机底部垂直，注入镶嵌料，热镶机将待检测试样与镶嵌料通过热压结合成一体；

将镶嵌好的待检测试样放入试样夹持盘中，保证待检测试样下平面与试样夹持盘下平面平行，将待检测试样与试样夹持盘紧固；

用金相砂纸对待检测试样下表面进行粗磨，去除磨面的不规则、损伤的切割面、附着物；

使用金刚石抛光液和水，在短毛抛光织物上对待检测试样下表面进行抛光，去除待检测试样表面金相砂纸残留的磨痕；

对待检测试样表面进行清洗并烘干。

优选的，对待检测试样表面进行清洗的步骤采用酒精清洗。

本发明的有益效果：简单易行，可操作性极强。通过使用国产或进口的自动制样机设备，避免了手工制备试样时所产生的试样截面受力的不均匀等现象。

具体实施方式

本发明一种TiAl渗层金相试样的制备方法的技术方案，包括：

步骤1、将待检测试样放入热镶机中，所述待检测试样的渗TiAl界面与镶嵌机底部垂直，注入镶嵌料，热镶机将待检测试样与镶嵌料通过热压结合成一体；

步骤2、将镶嵌好的待检测试样放入试样夹持盘中，保证待检测试样下平面与试样夹持盘下平面平行，将待检测试样与试样夹持盘紧固；

步骤3、用金相砂纸对待检测试样下表面进行粗磨，去除磨面的不规则、损伤的切割面、附着物；

步骤4、使用金刚石抛光液和水，在短毛抛光织物上对待检测试样下表面进行抛光，去除待检测试样表面金相砂纸残留的磨痕；

步骤5、对待检测试样表面进行清洗并烘干。

优选的，步骤5中对待检测试样表面进行清洗的步骤采用酒精清洗。使用酒精清洗蒸发快，易清洗试样表面的有机物。

下面结合实施例对本发明作进一步描述：

实施例:

1试样的选取

根据试验要求选取具有代表性的区域作为待金相试样。

2试样的标记

使用记号笔或标签，对试样表面进行标记，以便于试样的区分。

3试样的镶嵌

将方形试样(尺寸为10×10×10mm)采用型号为SimpliMet3000的热镶机，型号为HMR1的金相专用镶嵌料对试样进行镶嵌。镶嵌过程中使试样四周的渗TiAl界面与镶嵌机底部呈垂直状态，将适当的镶嵌料倒入镶嵌机中，热镶机将待检测试样与镶嵌料通过热压结合成一体。

4试样的装夹

将镶嵌好的金相试样放入试样加持盘，待检测试样下平面与试样加持盘下平面平行，使用试样找平器进行找平并紧固。

5试样的粗磨

分别使用80#、180#、320#、500#/600#、800#、1000#/1200#，SiC金相砂纸对试样进行粗磨，粗磨要求去除磨面的不规则、损伤的切割面、附着物等。

试样粗磨设备参数：

压力：20N(也可选取10N，30N，40N压力)；

时间：30秒每张砂纸；

磨盘转速：300r/m。

6试样的抛光

使用1μm金刚石抛光液和水，在较软且恢复性较高的短毛抛光织物上进行抛光，去除试样表面金相砂纸残留的磨痕，使其达到理想的抛光效果。

试样抛光设备参数：

选用恢复性较好织物

压力：20N(也可选取10N，30N，40N压力)；

时间：精抛3分钟；

磨盘转速：300r/m；