[发明专利]测试系统及测试方法

说明书

技术领域

本发明属于电子设备质量检测技术领域，尤其涉及测试系统及测试方法。

背景技术

在电子设备的研发和生产过程中，需要对电子设备的各项功能进行测试，以保证产品的质量。目前的测试设备一次只能对一个电子设备进行测试，当要对大量的同类型电子设备进行测试时，只能依次对各电子设备进行测试，会耗费大量的时间。

如何缩短对大量同类型电子设备进行测试所耗费的时间，是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种测试系统及测试方法，以缩短对大量同类型电子设备进行测试所耗费的时间。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种测试系统，包括：

处理器：

与所述处理器连接的存储器，所述存储器存储有多个测试脚本文件；

与所述处理器连接的M个被测设备接口，被测电子设备能够与所述被测设备接口连接；

与所述处理器连接的N个测试设备接口，测试设备能够与所述测试设备接口连接，其中，N和M为不小于2的整数，并且N不小于M；

所述处理器获取被测电子设备的物料编码，从所述存储器获取与所述物料编码对应的测试脚本文件，解析所述测试脚本文件生成动作指令，向n个测试设备接口发送所述动作指令，其中，n为不大于N的整数，所述n个测试设备接口连接有同一种测试设备，与所述n个测试设备接口连接的测试设备分别与一个被测电子设备连接，所述处理器获取所述被测电子设备的响应信息，依据所述响应信息确定所述被测电子设备的运行状态。

优选的，上述测试系统包括M个测试设备接口组，每个测试设备接口组包括多个测试设备接口，每个测试设备接口组中的多个测试设备接口至少为两种类型的通信接口。

优选的，上述测试系统中，所述处理器为单核多线程处理器或者多核处理器，所述处理器向所述n个测试设备接口并行发送所述动作指令。

优选的，上述测试系统还包括与所述处理器连接的显示装置，所述显示装置用于显示测试数据，所述测试数据包括所述处理器获取到的响应信息和所述被测电子设备的运行状态中的一个或多个。

本发明还公开一种测试方法，应用于测试系统，所述测试系统包括处理器、与所述处理器连接的存储器、与所述处理器连接的M个被测设备接口，以及与所述处理器连接的N个测试设备接口，其中，N和M为不小于2的整数，并且N不小于M，所述测试方法包括：

所述处理器获取被测电子设备的物料编码；

所述处理器从所述存储器获取与所述物料编码对应的测试脚本文件；

所述处理器解析所述测试脚本文件生成动作指令；

所述处理器向n个测试设备接口发送所述动作指令，其中，n为不大于N的整数，所述n个测试设备接口连接有同一种测试设备，与所述n个测试设备接口连接的测试设备分别与一个被测电子设备连接；

所述处理器获取所述被测电子设备的响应信息，依据所述响应信息确定所述被测电子设备的运行状态。

优选的，在上述测试方法中，所述处理器获取被测电子设备的物料编码，包括：获取被测电子设备的流水号；利用预存的流水号与物料编码的对应关系，确定所述水流号对应的物料编码，其中，在所述对应关系中，同一类型的设备对应于同一个物料编码。

优选的，在所述处理器为单核多线程处理器或者多核处理器的情况下，上述测试方法中，所述处理器向所述n个测试设备接口发送动作指令，具体为：所述处理器向所述n个测试设备接口并行发送动作指令。

优选的，在所述测试系统包括与所述处理器连接的显示装置的情况下，所述测试方法还包括：所述处理器控制所述显示装置显示测试数据，所述测试数据包括所述处理器获取到的响应信息和所述被测电子设备的运行状态中的一个或多个。

优选的，上述测试方法还包括：所述处理器将所述测试数据存储至所述存储器。