[发明专利]OLED像素驱动电路、静电释放保护电路及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种OLED像素驱动电路、静电释放保护电路、显示面板及缺陷检测方法。 

背景技术

有机电致发光器件(OLED,Organic Light-Emitting Display，有机电电致发光)是将电能直接转换成光能的全固体器件，因其具有薄而轻、高对比度、快速响应、宽视角、宽工作温度范围等优点而引起人们的极大关注，被认为是新一代显示器件。要真正实现其大规模产业化，必须提高器件的发光效率和稳定性，设计有效的图像显示驱动电路。 

OLED产品与普通产品不同，他在显示区域的电路构成复杂，最简单的像素电路结构也为2T1C结构，复杂的电路结构可以到6T2C甚至更多，但如果OLED产品发生失效，体现出来的大多是相似的失效现象，如亮点，暗点，亮线或暗线，但产品缺陷的失效解析非常困难。 

综合来说，对于OLED显示器线缺的不良解析对应人员来说，由于线缺成因多种多样，如何迅速的确定成因，就是一项非常困难的工作，也非常难以寻找到对应缺陷位置。 

发明内容

本发明为了解决上述现有技术存在的问题，提供了一种OLED像素驱动电路，包括：多条相互交错排列的扫描线和数据线；第一缺陷检测单元，与所述扫描线或所述数据线的第一端点电连接，其中，所述第一 端点位于所述扫描线或数据线的一端。 

本发明的另一实施例还提供了一种静电释放保护电路，所述静电释放保护电路位于显示面板的非显示区域，包括：静电放电单元，接收来自显示面板像素驱动电路的扫描线或数据线的电压并给予静电保护；电源线；开关晶体管；第二缺陷检测单元；其中，所述第二缺陷检测单元通过电源线连接所述开关晶体管的栅极，所述缺陷检测单元连接所述开关晶体管第一电极，所述开关晶体管的第二电极连接像素驱动电路的数据线。 

本发明的另一实施例还提供了一种显示面板，包括：扫描驱动器，所述扫描驱动器与若干条扫描线连接于扫描线的第二端点，用于提供扫描信号；数据驱动器，所述数据驱动器与若干条数据线连接于数据线的第二端点，用于提供数据信号。 

本发明的另一实施例还提供了一种显示面板的缺陷检测方法，包括如下步骤： 

提供一光学检测装置； 

利用扫描线发送检测信号至对应行的缺陷检测单元，和/或利用数据线发送检测信号至对应列的缺陷检测单元，所述缺陷检测单元为有机发光二极管； 

利用所述光学检测装置检测所述的像素驱动电路的数据线和/或扫描线对应的有机发光二极管发光强度是否达到通过预定值，不发光或低于预定值则判断该对应的数据线或扫描线具有缺陷。 

采用本发明的技术方案，能有效检测像素电路中的缺陷。 

附图说明

图1为本发明一实施例的像素结构图； 

图2为本发明一实施例的像素电路图； 

图3为本发明一实施例有机发光二极管的层状结构图； 

图4本发明另一实施例的像素结构图； 

图5为本发明另一实施例的像素电路图； 

图6本发明另一实施例的像素结构图； 

图7为本发明另一实施例的像素电路图。 

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。 

实施例 

如图1和图2所示，为本发明实施例像素电路的结构示意图。该OLED像素电路包括多条相互交错排列的扫描线Scan(图中仅示意Scan(n))和数据线Data(图中仅示意Data(n)、Data(n+1)、Data(n+2))；各数据线和扫描线交叉围绕的区域形成各像素区域，且各自包含2T1C的像素电路，具体地，每个像素电路包含第一晶体管T1和第二晶体管T2以及发光二极管104，其中，第一晶体管的T1栅极与扫描线Scan(n，其中n为自然数)电连接，其第一电极与数据线Data(n)电连接，且其第二电极与第二晶体管T2的栅极连接；第二晶体管的第一电极与数据线Data(n+1)连接，其第二电极与一发光二极管104的一端电连接，发光二极管104的另一端与公共地端107连接，且第一晶体管和第二晶体管之间还连有一电容CS。