[发明专利]磁记录介质用无碱玻璃及使用该无碱玻璃的磁记录介质用玻璃基板无效
| 申请号: | 201410300911.6 | 申请日: | 2014-06-27 | 
| 公开(公告)号: | CN104250064A | 公开(公告)日: | 2014-12-31 | 
| 发明(设计)人: | 秋山顺;小野和孝;安间伸一;中岛哲也;西泽学 | 申请(专利权)人: | 旭硝子株式会社 | 
| 主分类号: | C03C3/087 | 分类号: | C03C3/087;B24B7/24 | 
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 于洁;王海川 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 记录 介质 用无碱 玻璃 使用 | ||
1.一种磁记录介质用无碱玻璃,其中,
以基于氧化物的质量%计含有:
SiO2、Al2O3、CaO和MgO的含量满足:
[SiO2]+0.43×[Al2O3]+0.59×[CaO]-74.6≤0、且
[SiO2]+0.21×[MgO]+1.16×[CaO]-83.0≤0。
2.如权利要求1所述的磁记录介质用无碱玻璃,其中,杨氏模量为94.5GPa以上,比弹性模量为34.5GPa/g·cm-3以上。
3.一种磁记录介质用玻璃基板,其使用了权利要求1或2所述的无碱玻璃。
4.一种磁盘用玻璃基板的制造方法,包括使用研磨垫和含有研磨磨粒的pH小于7的研磨液对玻璃基板的主表面进行镜面研磨的镜面研磨工序,并且使用权利要求1或2所述的磁记录介质用无碱玻璃来制造磁盘用玻璃基板,所述制造方法的特征在于,
所述镜面研磨工序中,在由下述式(1)导出的玻璃成分的溶出速率f(μg·cm-2·分钟-1)满足下述式(2)的条件下实施镜面研磨,
f=f0·10α·pH+β·exp(-γ/T) (1)
式(1)中,f0=7.93×106,关于α、β,在所述无碱玻璃的SiO2含量w为60质量%以上时,α=0.0121×w-1.46、β=-0.0868×w+4.38,在所述无碱玻璃的SiO2含量w小于60质量%时,α=0.0562×w-4.07、β=-0.381×w+21.8,pH为研磨液的pH值,γ=5.81×103,
1×10-3≤f≤1 (2)。
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