[发明专利]内嵌微机电传感器的神经元模式位移或变形监测方法有效

专利信息
申请号: 201410286345.8 申请日: 2014-06-24
公开(公告)号: CN104101325B 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 李方元 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01B21/32 分类号: G01B21/32;G01B21/02
代理公司: 上海天协和诚知识产权代理事务所31216 代理人: 叶凤
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 微机 传感器 神经元 模式 位移 变形 监测 方法
【权利要求书】:

1.一种内嵌微机电传感器的神经元模式位移或变形监测方法,其特征在于,利用多点神经元结构模式,以传感器作为一个神经元主体,辅以刚性杆件作为神经元的髓鞘连接组成一个神经元基本单元组件;将多个神经元组件串联后形成神经链,以起始节点为基准,获得各单元间的相对位移来确定附着的结构变形。

2.如权利要求1所述的内嵌微机电传感器的神经元模式位移或变形监测方法,其特征在于,以一根刚性杆件附带一个传感器作为一个基本结构单元,作为神经元单元体;

将若干基本结构单元相串联或交叉,并与测试对象紧密固定,形成与测试物相似的线型或形状;

再以首个节点为基准,通过刚性杆件的转角和节点位移的测量结果,获得相邻并延伸至整个链上结构单元的位移;

借助单元或单元组上的传感器及时处理,获得相邻单元及节点的变形或振动特征,以此传递,获得结构全范围的二维和三维形变特征以及振型曲线。

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