[发明专利]一种基于Pockels效应的光学VFTO测量传感器在审
申请号: | 201410284608.1 | 申请日: | 2014-06-24 |
公开(公告)号: | CN104142417A | 公开(公告)日: | 2014-11-12 |
发明(设计)人: | 邱进;吴士普;陈江波;谭金权;张峰;汪本进;王玲;毛安澜;徐思恩;费烨;陈晓明;冯宇;李璿;周翠娟;黄琴 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;中国电力科学研究院;南瑞航天(北京)电气控制技术有限公司 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00 |
代理公司: | 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐国文 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 pockels 效应 光学 vfto 测量 传感器 | ||
1.一种基于Pockels效应的光学VFTO测量传感器,其特征在于:所述传感器包括光学传感头(1)、探头(6)、探头支撑(2)、光纤引出法兰(3)和光纤保护盒(4);所述光纤引出法兰(3)两端分别安装高度可调的所述探头支撑(2)、所述探头支撑(2)固定的所述探头(6)、和粘接在所述探头(6)端面中心的所述光学传感头(1)以及所述光纤保护盒(4);
所述探头(6)、所述探头支撑(2)、所述光纤引出法兰(3)以及所述光纤保护盒(4)的轴线重合。
2.如权利要求1所述的一种基于Pockels效应的光学VFTO测量传感器,其特征在于:
所述光学传感头(4)包括长方体形BGO晶体(13)、分别粘接在所述BGO晶体(13)两侧的1/4波片(12)和检偏器(14)、粘接在所述1/4波片(12)另一侧的起偏器(11)、粘接在所述起偏器(11)另一侧输入端的第一光纤准直器(101)、与所述第一光纤准直器(101)另一端连接的发光二极管LED(106)、分别粘接在所述检偏器(14)反射端和透射端的第二光纤准直器(102)和第三光纤准直器(103)。
3.如权利要求2所述的一种基于Pockels效应的光学VFTO测量传感器,其特征在于:
所述发光二极管LED(106)通过光纤与所述第一光纤准直器(101)的输入端连接,所述第一光纤准直器(101)将入射光转变为平行光,通过所述起偏器(11)形成线偏振光又经所述1/4波片(12)分解为两束振动方向相互垂直、相差为90℃的线偏振光并入射到所述BGO晶体(13)上,经过BGO晶体(13)产生由高压电场引起的相差,最后将所述BGO晶体(13)的两路出射光通过所述检偏器(14)由相位变化转化成光强度变化,再分别通过第二光纤准直器(102)、第三光纤准直器(103)经光纤(107)传输至二次光学元件中。
4.如权利要求3所述的一种基于Pockels效应的光学VFTO测量传感器,其特征在于:
所述发光二极管LED(106)为小型密封的带尾纤光纤的高辐射率的发光二极管LED(106);所述发光二极管LED(106)发出中心波长为850nm,频谱宽度小于70μm的红外光;所述红外光的中心波长变化不超过2nm,所述发光二极管LED(106)的温度变化不超过5℃。
5.如权利要求3所述的一种基于Pockels效应的光学VFTO测量传感器,其特征在于:
所述BGO晶体的透光区为0.37μm*0.37μm,厚度0.63μm。
6.如权利要求1所述的一种基于Pockels效应的光学VFTO测量传感器,其特征在于:
连接所述光学传感头(1)的光纤(5)穿过所述探头(6)和所述探头支撑(2)经光纤引出法兰(2)引出至光纤保护盒(4)内,再经光纤保护盒(4)端部的法兰盘引出。
7.如权利要求6所述的一种基于Pockels效应的光学VFTO测量传感器,其特征在于:
所述光纤引出法兰(3)的中心设有通孔,所述光纤引出法兰(3)与所述探头支撑(2)连接端的端面四周设有一圈环绕所述探头支撑(2)且与所述光纤引出法兰(2)同轴的环状凹槽(8)。
8.如权利要求7所述的一种基于Pockels效应的光学VFTO测量传感器,其特征在于:
光纤(5)外部套有金属管(7),所述光纤(5)与金属管(7)之间通过金属焊料焊接在一起,所述金属管(7)穿过光纤引出法兰(3)中心的通孔(9)将所述光纤(5)引出;所述通孔(9)与所述金属管(7)之间的空隙采用353ND双组份环氧树脂胶灌封固化。
9.如权利要求8所述的一种基于Pockels效应的光学VFTO测量传感器,其特征在于:
所述光纤(5)为尾纤经过金属化封装后形成的金属化光纤(5)。
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