[发明专利]磁记录介质的制造方法及磁记录介质

说明书

本发明的目的在于提供错误产生率低的磁记录介质的制造方法及磁记录介质。一种磁记录介质的制造方法，其为包含玻璃基板的磁记录介质的制造方法，其中，包括在所述玻璃基板中产生屈曲变形和弯曲变形中的至少任意一种变形，所述玻璃基板的玻璃含有5摩尔％以上的Al₂O₃，B₂O₃的含量为0.1摩尔％以上且15摩尔％以下；或者所含有的碱金属氧化物为一种以下，碱金属氧化物的含量为0摩尔％以上且25摩尔％以下；或者含有两种以上的碱金属氧化物，碱金属氧化物的含量大于0摩尔％且为20摩尔％以下。

技术领域

本发明涉及磁记录介质的制造方法及磁记录介质。

背景技术

作为在磁记录装置等中使用的磁记录介质用基板，以往一直使用铝合金基板，但随着高记录密度化的要求，比铝合金基板硬且平坦性、平滑性优良的玻璃基板成为主流。

近年来，由于磁记录介质的高记录密度化、高速旋转化进一步发展，开始比以往更多地产生磁头看丢记录有磁记录介质的半径/磁道位置信息的伺服信息而产生读取/写入错误(以下均记载为错误)的现象。

认为这种错误的产生原因在于，由高记录密度化所带来的磁道宽度狭窄化、高速旋转化所带来的光盘颤动的产生而引起的机械性振动。

因此，为了抑制这种错误，例如使用比弹性模量高的材料作为磁记录介质用玻璃基板的材料来抑制颤动。需要说明的是，比弹性模量也称为比杨氏模量，是用杨氏模量除以玻璃的密度而得到的量，是作为表示轻且强、轻且不易变形的特性的指针的量。

另外，专利文献1中记载了一种磁盘用玻璃基板的制造方法，其通过选择厚度方向的对称性在规定范围内的磁记录介质用玻璃基板来减少制成硬盘时记录在磁记录介质中的伺服信息的错误。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2010-277679号公报

发明内容

发明所要解决的问题

如上所述，以往一直在研究通过选择磁记录介质用的玻璃基板来抑制磁记录介质的错误产生的方法，但并不能充分抑制错误的产生。

因此，鉴于上述现有技术存在的问题，本发明的目的在于提供错误的产生率低的磁记录介质的制造方法。

用于解决问题的方法

为了解决上述问题，本发明提供一种磁记录介质的制造方法，其为包含玻璃基板的磁记录介质的制造方法，其中，包括在上述玻璃基板中产生屈曲变形和弯曲变形中的至少任意一种变形，上述玻璃基板的玻璃含有5摩尔％以上的Al₂O₃，B₂O₃的含量为0.1摩尔％以上且15摩尔％以下；或者所含有的碱金属氧化物为一种以下，碱金属氧化物的含量为0摩尔％以上且25摩尔％以下；或者含有两种以上的碱金属氧化物，碱金属氧化物的含量大于0摩尔％且为20摩尔％以下。

发明效果

根据本发明，能够提供错误的产生率低的磁记录介质的制造方法。

附图说明

图1是屈曲变形和弯曲变形的说明图。

图2是磁性层成膜工序中的保持夹具的构成例的说明图。

图3是滞弹性变形量的测定流程的说明图。

图4是滞弹性变形量测定时附加载荷的方法的说明图。

图5是表示本发明的实施例中刚除去载荷后的平坦度对除去载荷前的载荷施加时间的依赖性的图。