[发明专利]一种光伏旁通二极管失效概率预测方法

权利要求书

1.一种光伏旁通二极管失效概率预测方法，其特征是，包括以下步骤：

1)设计遮挡实验，采用移动辐照计测试光伏组件在有、无遮挡部分的总辐照值；结合固定辐照计监测的直接、散射辐射数据，分析不同遮挡方式下光伏组件表面辐照不均匀度与直接、散热辐射比的关系；

2)结合天空各向异性散射模型和典型阴影分布，量化典型遮挡情况下光伏组件的表面辐照不均匀度；

3)根据光伏组件I-V特性，测试典型光伏组件在不同遮挡情况下的旁通二极管工作情况，确定旁通二极管正向电流值与光伏组件表面辐照不均匀度的关系；

4)选择两种代表性光伏接线盒，测试二极管结温与旁通二极管正向电流值、外部环境温度的关系；

5)基于电子元器件的失效函数，根据步骤(4)中的二极管工作时的结温，可以获取二极管失效概率随着运行时间变化情况，进行二极管可靠性评估。

2.根据权利要求1所述的一种光伏旁通二极管失效概率预测方法，其特征是，在步骤(4)中，实验中旁通二极管结温可以通过以下公式计算：

T_J＝T_C+R_t×U_D×I_D       (3)

式中，T_J为二极管结温，T_c为二极管外壳温度，Rt为二极管热阻系数，U_D二极管两端电压，I_D为通过二极管电流；对于散热系数确定的接线盒，根据辐照分布不均匀度得到通过二极管的电流，便可算出二极管结温T_J。

3.根据权利要求1所述的一种光伏旁通二极管失效概率预测方法，其特征是，在步骤(5)中，所述电子元器件的失效函数为：

F(t,T)＝1-exp[-λ(T)×t]        (4)

式中，T为元件温度(对于旁通二极管，即结温T_J)，t为运行时间，λ(T)为元件衰减速率函数。