[发明专利]一种阵列基板检测设备

权利要求书

1.一种阵列基板检测设备，包括信号输入单元和信号检测单元，所述信号输入单元与多个阵列基板连接，用以向多个所述阵列基板输入检测信号，所述信号检测单元用于采集所述阵列基板中各像素的电学波形信号，并确定阵列基板上的像素是否存在缺陷，其特征在于，每个所述阵列基板和所述信号输入单元之间连接有通断开关。

2.根据权利要求1所述的阵列基板检测设备，其特征在于，连接于多个所述阵列基板和所述信号输入单元之间的多个通断开关依次开启，以分别对多个所述阵列基板进行检测。

3.根据权利要求1所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述信号输入单元包括与所述阵列基板的数据线连接的数据信号子单元和与所述阵列基板的栅极线连接的栅极信号子单元；所述数据信号子单元用于向所述阵列基板的数据线输入数据信号；所述栅极信号子单元用于向所述阵列基板的栅极线输入栅极信号；

所述通断开关包括第一通断开关和第二通断开关，所述第一通断开关连接于所述数据信号子单元和所述阵列基板的数据线之间，所述第二通断开关连接于所述栅极信号子单元和所述阵列基板的栅极线之间。

4.根据权利要求3所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述第一通断开关和所述第二通断开关均为薄膜晶体管；

所述第一通断开关的源极与所述数据信号子单元连接，所述第一通断开关的漏极与所述阵列基板的数据线连接，所述第一通断开关的栅极与控制器连接，所述控制器通过向所述第一通断开关的栅极加载正电压或负电压，控制所述第一通断开关开启或关闭；

所述第二通断开关的源极与所述栅极信号子单元连接，所述第二通断开关的漏极与所述阵列基板的栅极线连接，所述第二通断开关的栅极与所述控制器连接，所述控制器通过向所述第二通断开关的栅极加载正电压或负电压，控制所述第二通断开关开启或关闭。

5.根据权利要求4所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述第一通断开关和第二通断开关的栅极形成为一体，且与所述控制器连接。

6.根据权利要求1所述的阵列基板检测设备，其特征在于，多个所述阵列基板所在的玻璃基板上设有多组检测端子，多组所述检测端子与多个所述阵列基板一一对应地连接，且多组所述检测端子与所述信号输入单元连接。

7.根据权利要求6所述的阵列基板检测设备，其特征在于，每组所述检测端子包括至少一个与其对应的阵列基板的数据线连接的检测端子，和/或，至少一个与其对应的阵列基板的栅极线连接的检测端子。

8.根据权利要求6所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述通断开关连接于每个阵列基板和与其对应的一组检测端子之间。

9.根据权利要求6所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述通断开关连接于每组所述检测端子和信号输入单元之间。

10.根据权利要求6所述的阵列基板检测设备，其特征在于，多组所述检测端子位于多个所述阵列基板的同一侧。