[发明专利]一种闪存存储设备检测的方法及装置

说明书

技术领域

本发明属于存储设备技术领域，尤其涉及一种闪存存储设备检测的方法及装置。

背景技术

闪存存储设备内部包含多个存储块(block)，每个存储块包含多个页(page)，每个页又包含多个字节(byte)。

由于工艺限制，闪存存储设备在量产时并不能保证每一个存储块为“好块”。因此现有技术通常在闪存存储设备量产时对存储块进行检测，检测出“好块”和“坏块”后，以此对存储块进行分类使用。然而，由于闪存存储设备的不稳定特性，在使用的过程中，也容易出现新的坏块，即量产时检测的“好块”，在使用时不一定是“好块”，从而导致闪存存储设备中存储的内容出现错误或者丢失，使得系统在数据读取时出错，影响整个系统的稳定性。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种闪存存储设备检测的方法及装置，以避免闪存存储设备使用“坏块”存储数据，导致数据出错或丢失的问题。

本发明实施例是这样实现的，一种闪存存储设备检测的方法，所述方法包括：

在所述闪存存储设备上电后，且所述闪存存储设备处于空闲状态时，对所述闪存存储设备进行至少一次写入检测数据的操作；

以存储块为单位读取写入所述闪存存储设备的检测数据，并对从每一个存储块中读取的所述检测数据进行ECC校验，当校验结果为当前存储块中读取的所述检测数据的最大错误字节数大于或等于预先设定的阈值时，判定所述当前存储块为坏块，并对所述当前存储块进行标记；当校验结果为当前存储块中读取的所述检测数据的最大错误字节数小于预先设定的所述阈值时，判定所述当前存储块为好块，擦除写入该存储块的检测数据，并对该存储块进行标记。

本发明实施例的另一目的在于提供一种闪存存储设备检测的装置，所述装置包括：

写入单元，用于在所述闪存存储设备上电后，且所述闪存存储设备处于空闲状态时，对所述闪存存储设备进行至少一次写入检测数据的操作；

检测单元，用于以存储块为单位读取写入所述闪存存储设备的检测数据，并对从每一个存储块中读取的所述检测数据进行ECC校验，当校验结果为当前存储块中读取的所述检测数据的最大错误字节数大于或等于预先设定的阈值时，判定所述当前存储块为坏块，并对所述当前存储块进行标记；当校验结果为当前存储块中读取的所述检测数据的最大错误字节数小于预先设定的所述阈值时，判定所述当前存储块为好块，擦除写入该存储块的检测数据，并对该存储块进行标记。

本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本发明实施例在闪存存储设备量产之后，进行使用的过程中，利用闪存存储设备空闲的时间对闪存存储设备中的存储块进行检测，并对检测出的坏块和好块进行标记，从而可有效避免闪存存储设备在后续使用中使用“坏块”存储数据，导致数据出错或丢失的问题，具有较强的易用性和实用性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例一提供的闪存存储设备检测方法的实现流程图；

图2是本发明实施例二提供的闪存存储设备检测装置的组成结构图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。

实施例一：

图1示出了本发明实施例一提供的闪存存储设备检测方法的实现流程，该方法过程详述如下：

在步骤S101中，在所述闪存存储设备上电后，且所述闪存存储设备处于空闲状态时，对所述闪存存储设备进行至少一次写入检测数据的操作。

在本实施例中，所述空闲状态是指所述闪存存储设备没有任务或者命令需要执行时的状态。所述检测数据与所述闪存存储设备在量产时写入的检测数据不同。本实施例所述检测数据是在所述闪存存储设备量产完之后，用户使用的过程中，通过一些类似用户正常操作写入闪存存储设备的数据对闪存存储设备进行重新检测。

需要说明的是，当本实施例对所述闪存存储设备进行一次以上写入检测数据的操作时，每一次写入的检测数据都互不相同。