[发明专利]一种光纤延迟量的温度特性的测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种光纤延迟量的温度特性的测量装置，包括光源、1×2分路器、待测光纤、参考光纤、温度箱、光电转换器以及示波器；所述待测光纤置于温度箱内，其两端伸出，所述光源与1×2分路器输入端相连，所述1×2分路器输出纤分别与待测光纤和参考光纤相连，所述待测光纤和参考光纤的另一端分别与两个光电转换器相连，所述两个光电转换器的电信号输出至示波器上，所述1×2分路器为等额分配。

2.根据权利要求1所述的光纤延迟量的温度特性的测量装置，其特征在于：所述示波器为数字示波器。

3.根据权利要求1所述的光纤延迟量的温度特性的测量装置，其特征在于：所述示波器为自带测量功能从波形上获取光纤延迟量。

4.根据权利要求1所述的光纤延迟量的温度特性的测量装置，其特征在于：所述参考光纤置于室温环境中。

5.根据权利要求1所述的光纤延迟量的温度特性的测量装置，其特征在于：所述温度箱的设定温度范围为待测光纤的工作温度范围-55℃～85℃。

6.根据权利要求1所述的光纤延迟量的温度特性的测量装置，其特征在于：所述待测光纤与参考光纤波导结构与长度大致相等。

7.一种光纤延迟量的温度特性的测量方法，该测量方法包含下述步骤：

(1)提供如权利要求1～6中任一项所述的光纤延迟量的温度特性的测量装置；

(2)将待测光纤放入温度箱内，且待测光纤两端伸出温度箱，待测光纤两端分别与一1×2分路器及光电转换器连接，将参考光纤置于室温环境中，所述参考光纤两端分别与1×2分路器的另一端及另一光电转换器连接；所述待测光纤与参考光纤波导结构与长度大致相等，所述温度箱的设定温度范围为待测光纤的工作温度范围；

(3)开启温度箱并设定所需温度T₁，待温度箱的温度达到T₁时将光源、光电转换器与示波器开启并采集延迟数据，设定光源的输出波长、输出功率，调节示波器的显示精度以最大程度保证延迟量读数的精度；观察待测光纤的延迟量数值，当该数值稳定后测得待测光纤延迟量测量值，记为j₁，参考光纤延迟量测量值，记为k₁，计算出温度T₁时待测光纤与参考光纤的延迟量差值的延迟量差t₁，t₁＝j₁-k₁；(3)将待测光纤的温度箱的温度设置为T₂，待测光纤新的延迟量稳定后，测得待测光纤延迟量测量值，记为j₂，参考光纤延迟量测量值，记为k₂，计算出温度T₂时待测光纤与参考光纤的延迟量差值的延迟量差t₂，t₂＝j₂－k₂；

(4)计算延迟变化量＝(t₂－t₁)/(L×ΔT)，L为待测光纤长度，ΔT为温度变化值T₁－T₂。

8.根据权利要求7所述的光纤延迟量的温度特性的测量方法，其特征在于：所述待测光纤延迟量变化量表征的是利用上述方法得出的对应温度区间的平均值。