[发明专利]一种光纤状态检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 201410257797.3 申请日: 2014-06-11
公开(公告)号: CN104089756B 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 巩马理;付晨;肖启荣;闫平 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01M11/02
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司11002 代理人: 李迪
地址: 100084 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光纤 状态 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种光纤状态检测方法,其特征在于,该方法包括:

S1、对标准光纤的输出光场图像进行计算,得到标准光纤输出光场的数值孔径与功率直方图;

S2、通过对采集的待测光纤输出光场图像进行分析,得到待测光纤输出光场的数值孔径与功率直方图;

S3、将待测光纤输出光场的数值孔径与功率直方图与标准光纤输出光场的数值孔径与功率直方图对比,得到待测光纤输出光场的状态变化。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S2具体包括:

S20、对采集的待测光纤输出光场图像进行分析,判断待测光纤输出光斑的中心;

S21、计算待测光纤输出光场在每一个环状数值孔径区域内的功率比例,得到待测光纤输出光场的数值孔径与功率直方图。

3.一种光纤熔接状态检测与控制方法,其特征在于,该方法包括:

A1、将待输入熔接光纤与待输出熔接光纤进行熔接;

A2、检测熔接后的光纤纤芯损耗和包层损耗,得到光纤输出光场的数值孔径与功率直方图;

A3、将光纤输出光场的数值孔径与功率直方图与标准光纤输出光场的数值孔径与功率直方图对比,获取光纤熔接过程中的状态;

A4、根据熔接过程中光纤输出光场的数值孔径与功率直方图的变化趋势与损耗参数,实时反馈并控制熔接过程参数。

4.一种光纤激光检测与控制方法,其特征在于,该方法包括:

B1、检测光纤激光系统中被测包层光纤的纤芯损耗和包层损耗,得到光纤输出光场的数值孔径与功率直方图;

B2、将光纤输出光场的数值孔径与功率直方图与标准光纤输出光场的数值孔径与功率直方图对比,获取光纤激光系统的状态;

B3、根据光纤激光系统运转过程中光纤输出光场的数值孔径与功率直方图的变化趋势,实时反馈并控制光纤激光系统运转的状态参数。

5.一种光纤状态检测系统,其特征在于,该系统包括:标准光纤数值孔径与功率直方图生成模块、待测光纤数值孔径与功率直方图生成模块和光纤状态比对模块;

所述标准光纤数值孔径与功率直方图生成模块,用于对标准光纤的输出光场图像进行计算,得到标准光纤输出光场的数值孔径与功率直方图;

所述待测光纤数值孔径与功率直方图生成模块,用于对采集的待测光纤输出光场图像进行分析,得到待测光纤输出光场的数值孔径与功率直方图;

所述光纤状态比对模块,用于将待测光纤输出光场的数值孔径与功率直方图与标准光纤输出光场的数值孔径与功率直方图对比,得到待测光纤输出光场的状态变化。

6.一种光纤熔接状态检测系统,其特征在于,该系统包括:光纤熔接系统、第一光纤数值孔径与功率直方图生成模块和光纤熔接状态获取模块、和第一反馈控制模块;

所述光纤熔接系统,用于将待输入熔接光纤与待输出熔接光纤进行熔接;

所述第一光纤数值孔径与功率直方图生成模块,用于检测熔接后的光纤纤芯损耗和包层损耗,得到第一光纤输出光场的数值孔径与功率直方图;

所述光纤熔接状态获取模块,用于将第一光纤输出光场的数值孔径与功率直方图与标准光纤输出光场的数值孔径与功率直方图对比,获取光纤熔接过程中的状态;

所述第一反馈控制模块,用于根据熔接过程中光纤输出光场的数值孔径与功率直方图的变化趋势与损耗参数,实时反馈并控制熔接过程参数。

7.一种光纤激光检测系统,其特征在于,该系统包括:激光信号发生器、第二光纤数值孔径与功率直方图生成模块、光纤激光的状态获取模块和第二反馈控制模块;

所述激光信号发生器,用于将激光注入被测包层光纤的纤芯;

所述第二光纤数值孔径与功率直方图生成模块,用于检测被测包层光纤的纤芯损耗和包层损耗,得到第二光纤输出光场的数值孔径与功率直方图;

所述光纤激光的状态获取模块,用于将第二光纤输出光场的数值孔径与功率直方图与标准光纤输出光场的数值孔径与功率直方图对比,获取光纤激光的状态;

所述第二反馈模块,用于根据光纤激光系统运转过程中光纤输出光场的数值孔径与功率直方图的变化趋势,实时反馈并控制光纤激光系统运转的状态参数。

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