[发明专利]一种高接梨树侧生超长枝刻芽方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种高接梨树侧生超长枝刻芽的方法。

背景技术

梨树髙接换优是我国生产上常用的技术。梨树高接后树冠往往发生大量的超长枝。在自然生长状态下，第二年枝条生长仍较旺，枝条两级分化严重，成花量较少，且原超长枝的下部常出现短枝，由于结果年限较短，易导致结果部位外移。

针对上述问题，本发明对高接后树冠发生的所有超长枝进行刻芽，促使长枝上发生的新梢长势更加均匀，不仅中短枝比例显著增加，而且刻芽后长枝的下部能够抽生部分中、长枝，这样，能够有效地延长结果枝组寿命，在一定程度上控制了结果部位的外移。

发明内容

本发明建立了一种用于高接梨树侧生超长枝刻芽的方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：梨树髙接后第二年春季，选择树冠上发生的超长枝，于萌芽前进行刻芽，从而达到促进枝量增加和花芽形成、有效控制结果部位外移的目的。采用本发明技术后，高接树树势缓和加快，产量恢复快，树冠立体结果能力强。

本发明的具体内容，即一种高接梨树侧生超长枝刻芽的方法如下：

1、超长枝选择：选择高接树树冠上抽生的长度在80cm以上、基部直径在0.6cm以上的枝条。

2、刻芽时期：春季梨树萌芽前一周内。

3、拉枝开角：如果超长枝角度小于45°，先将其拉至70°~90°。

4、刻芽方法：在超长枝上，除了顶端30cm不刻芽外，对其上所有的芽均进行刻伤处理。刻芽工具可采用壁纸刀或长柄手术刀。对于超长枝两侧和背下芽，刻芽部位在芽上方0.5cm处；对于超长枝的背上芽，刻芽部位则在芽下方0.5cm处，刻伤长度为枝条周长的1/2~2/3，深达木质部。

本发明专利的有益效果是：采用上述刻芽方法，加速了髙接梨树生长势缓和，当年成花量显著增加，产量恢复快，结果部位不易外移。

具体实施方式

2008~2012年，对河北蠡县、晋州、高阳、山西太谷等地髙接梨园树冠发生的超长枝，于翌年春季萌芽前进行了刻芽，对于长枝两侧和背下芽，刻芽部位在芽上方0.5cm处，对于长枝的背上芽，刻芽部位则在芽下方0.5cm处，刻伤长度为枝条周长的1/2~2/3，深达木质部。刻芽效果表明：刻芽后超长上发生的新梢势力比较均匀，中短枝比例和成花量显著提高，长枝基部发生了一些中长枝，有效地控制了结果部位外移。