[发明专利]微小自聚焦透镜聚焦光斑质量检测方法有效

专利信息
申请号: 201410254389.2 申请日: 2014-06-10
公开(公告)号: CN104019964B 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 王驰;夏学勤;许婷婷;毕书博;于瀛洁 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙)31205 代理人: 陆聪明
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 微小 自聚焦 透镜 聚焦 光斑 质量 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种微小自聚焦透镜聚焦光斑质量检测装置,包括光源(101)、光纤跳线(102)、五维调整架(103)、微小自聚焦透镜夹具(104)、显微系统(105)、光束分析仪(106)和计算机(107),其特征在于,微小自聚焦透镜(108)装夹在所述微小自聚焦透镜夹具(104)上,微小自聚焦透镜(108)靠近光源(101)一端通过光纤跳线(102)与光源(101)连接;所述微小自聚焦透镜夹具(104)置于五维调整架(103)上;所述显微系统(105)和光束分析仪(106)通过螺纹连接,所述显微系统(105)的中心轴线与光束分析仪(106)的中心轴线重合;所述光束分析仪(106)与计算机(107)通过USB接口数据线连接。

2.一种微小自聚焦透镜聚焦光斑质量检测方法,其特征在于,具体实施步骤为:

(1)运行计算机(107)和光束分析仪(106),将光源(101)的输出光束依次经过光纤跳线(102)、微小自聚焦透镜(108)、显微系统(105)后传输到光束分析仪(106),光束分析仪(106)探测到的光束的形心位置和光斑大小在计算机(107)中显示并记录;

(2)调整五维调整架(103),将微小自聚焦透镜(108)的中心轴线与显微系统(105)的中心轴线重合,即将光束通过微小自聚焦透镜(108)后对心垂直入射到显微系统(105)的入射面和光束分析仪(106)的探测面;其中对心指光斑中心和显微系统(105)的入射面的中心以及光束分析仪(106)的探测面的中心重合;

(3)调节五维调整架(103)的移动旋钮,改变微小自聚焦透镜(108)轴向方向的位置,在计算机(107)中显示并记录移动后待测位置的光斑的形心位置和光斑大小;

(4)测出光束通过微小自聚焦透镜(108)后的最小光斑大小及其位置,测出的最小光斑的大小即为微小自聚焦透镜(108)的聚焦光斑大小,最小光斑位置与微小自聚焦透镜(108)的相对距离即为微小自聚焦透镜(108)的焦距。

3.根据权利要求2所述的微小自聚焦透镜聚焦光斑质量检测方法,其特征在于,所述步骤(2)中将通过微小自聚焦透镜(108)的光束对心垂直入射到显微系统(105)的入射面以及光束分析仪(106)的探测面,具体实施步骤为:

(1)调节五维调整架(103)的X向移动旋钮(201)和Y向移动旋钮(202),使计算机(107)中显示并记录的形心坐标X、Y的数值近似为0;

(2)右旋五维调整架(103)的Z向移动旋钮(203),使微小自聚焦透镜(108)在轴向方向上与显微系统(105)的入射面的相对距离减小dz;

(3)根据计算机(107)中显示的形心坐标X、Y的数值变化,判断微小自聚焦透镜(108)的中心轴线相对显微系统(105)的中心轴线的偏转情况;

(4)根据微小自聚焦透镜(108)的偏转情况,调节五维调整架(103)的X向旋转旋钮(204)、X向移动旋钮(201)、Y向旋转旋钮(205)和Y向移动旋钮(202),使形心坐标X、Y的数值近似为0,将微小自聚焦透镜(108)的中心轴线向对心垂直入射到显微系统(105)的入射面的方向调节;

(5)右旋五维调整架(103)的Z向移动旋钮(203),使微小自聚焦透镜(108)在轴向方向上与显微系统(105)的入射面的相对距离减小dz;

(6)观察在计算机(107)中显示形心坐标X、Y的数值是否近似为0;

(7)若形心坐标X、Y的数值近似为0,表明通过微小自聚焦透镜(108)的光束对心垂直入射到显微系统(105)的入射面以及光束分析仪(106)的探测面;若形心坐标X、Y的数值不为0,且变化较大,重复步骤(1)-步骤(6)的操作。

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