[发明专利]一种芯片错误注入测试方法及装置

权利要求书

1.一种芯片错误注入测试方法，其特征在于，所述方法包括：

将测试数据组输入到待检测芯片的存储区中；

在待检测芯片运行过程中对其进行错误注入；

读取错误注入后的测试数据组，判断所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组是否相同；

在所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组不相同时，记录芯片的告警情况，以计算芯片的漏报率；

所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组相同时，对所述存储区中的测试数据组进行更改，并将更改后的测试数据组重新输入到待检测芯片的存储区中，以重新进行错误注入测试。

2.如权利要求1所述的芯片错误注入测试方法，其特征在于，所述对所述存储区中的测试数据组进行更改的方式包括：对测试数据组中的测试数据均加1、对测试数据组中的测试数据均减1和/或写入随机数到测试数据组中。

3.如权利要求1所述的芯片错误注入测试方法，其特征在于，所述方法之前还包括：

设置错误注入测试的总次数；

所述记录芯片的告警情况，以计算芯片的漏报率的步骤之后还包括：

记录已进行的测试次数，在已进行的测试次数达到设置的总次数时，根据芯片的告警情况计算芯片的漏报率；在已进行的测试次数未达到设置的总次数时，对存储区中的测试数据组进行更改，以进行下一次错误注入测试。

4.如权利要求3所述的芯片错误注入测试方法，其特征在于，所述根据芯片的告警情况计算芯片的漏报率为：

根据芯片的未漏报数和漏报数计算芯片的漏报率，其公式为：

其中，r为芯片的漏报率，m为芯片的漏报数，n为芯片的未漏报数。

5.一种芯片错误注入测试装置，其特征在于，所述装置包括：

数据输入模块，用于将测试数据组输入到待检测芯片的存储区中；

错误注入模块，用于在待检测芯片运行过程中对其进行错误注入；

数据对比模块，用于读取错误注入后的测试数据组，判断所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组是否相同；

统计模块，用于在所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组不相同时，记录芯片的告警情况，以计算芯片的漏报率；

所述装置还包括数据变更模块；

所述数据变更模块，用于在所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组相同时，对所述存储区中的测试数据组进行更改，并将更改后的测试数据组重新输入到待检测芯片的存储区中，以重新进行错误注入测试。

6.如权利要求5所述的芯片错误注入测试装置，其特征在于，所述数据变更模块具体用于：

对存储区中的测试数据组中的测试数据均加1、对存储区中的测试数据组中的测试数据均减1和/或写入随机数到测试数据组中，以实现对所述存储区中的测试数据组进行更改。

7.如权利要求5所述的芯片错误注入测试装置，其特征在于，所述数据输入模块还用于：

所述数据变更模块还用于：

记录已进行的测试次数，在已进行的测试次数达到设置的总次数时，通知统计模块根据芯片的告警情况计算芯片的漏报率；在已进行的测试次数未达到设置的总次数时，对存储区中的测试数据组进行更改，以进行下一次错误注入测试。

8.如权利要求7所述的芯片错误注入测试装置，其特征在于，所述统计模块根据芯片的告警情况计算芯片的漏报率为：

其中，r为芯片的漏报率，m为芯片的漏报数，n为芯片的未漏报数。