[发明专利]一种零件质量缺陷检测仪及利用该检测仪进行检测的方法

说明书

（一）      技术领域

本发明涉及机械零件检测领域，特别涉及一种零件质量缺陷检测仪及利用该检测仪进行检测的方法。

（二）      背景技术

在机械零部件生产过程中，零件尺寸测量及其质量检测占有重要地位，而传统的测量方法有利用千分尺、游标卡尺或量规等进行测量，或者用物理方法测量，如压电转换测量，利用霍尔元件进行测量等。这些测量大都是测量装置与被测物体直接相接触，但有些被测量零件不易与测量装置接触或接触后测量精度不高或者被测零件为辐射体、高温物体而且有些零件只需要检测某些关键部位，这时传统测量方法的局限性就显现出来了。而国内外CCD激光测量仪等设备价格高，因此，需要提出一种非接触式的能够检测零件关键点位的经济型检测仪。

（三）      发明内容

    本发明为了弥补现有技术的缺陷，提供了一种结构简单、价格低廉、不用接触被检零件即可进行检测的零件质量缺陷检测仪，同时提供了采用该检测仪进行检测的方法。

本发明是通过如下技术方案实现的：

一种零件质量缺陷检测仪，其特征是，包括X轴滑轨，所述X轴滑轨一侧连接有零件放置台，所述X轴滑轨上设有X轴丝杠，所述X轴丝杠上套有X轴滑块，所述X轴丝杠的一端连接X轴步进电机，所述X轴滑轨左端从内至外依次设有X轴左接近开关和X轴左行程开关，所述X轴滑轨右端从内至外依次设有X轴右接近开关和X轴右行程开关，所述X轴滑块上设有平行的Y轴丝杠和Y轴滑轨，所述Y轴滑轨设有套在Y轴丝杠上的Y轴滑块，所述Y轴丝杠的顶端连接Y轴步进电机，所述Y轴滑轨的上端从上至下依次设有Y轴上行程开关和Y轴上接近开关，所述Y轴滑轨的下端从上至下依次设有Y轴下接近开关和Y轴下行程开关，所述Y轴滑块上设有开口向下的框架，框架上设有激光传感器，所述框架和零件放置台位于X轴滑轨的同一侧；所述X轴左行程开关和X轴右行程开关分别与X轴步进电机电路连接，所述Y轴上行程开关和Y轴下行程开关分别与Y轴步进电机电路连接。

所述Y轴丝杠为滚珠丝杠。

利用上述零件质量缺陷检测仪进行检测的方法，其特征是，其步骤如下：首先将计算机及检测仪上的激光传感器、X轴步进电机和Y轴步进电机与PLC控制系统连接，再将标准零件数据导入计算机：先画出标准零件三维模型图，再建立一个专门的数据库用来存放标准零件所有数据，然后将零件的三维模型以数据的方式存入建好的数据库中；然后启动计算机、激光传感器与PLC控制系统，在PLC控制系统的控制下将激光传感器移动至需要检测的关键检测点平面，用计算机驱动PLC控制系统带动测量装置扫描零件尺寸数据，将扫描到的数据与数据库中标准零件的数据进行误差对比分析，若所测数据在误差范围内，则表明该零件合格，若所测数据超出误差范围，则零件不合格。

本发明的有益效果是：

本发明结构简单，使用方便，成本低，自动化程度高，不用接触机器零件就可以将有缺陷的零件检测出来，非常方便。

（四）      附图说明

下面结合附图对本发明作进一步的说明。

图1为本发明的立体结构示意图；

图2为本发明的工作原理示意图；

图3为本发明的检测流程图；

图4-图18为PLC控制系统程序中各功能块及其功能表。 

图中，1 X轴滑轨，2零件放置台，3 X轴丝杠，4 X轴步进电机，5 X轴左接近开关，6 X轴左行程开关，7 X轴右接近开关，8 X轴右行程开关，9 X轴滑块，10 Y轴丝杠，11 Y轴滑轨，12轴承座，13 Y轴步进电机，14 Y轴滑块，15 Y轴上行程开关，16 Y轴上接近开关，17 Y轴下接近开关，18 Y轴下行程开关，19框架，20激光传感器。

（五）      具体实施方式