[发明专利]一种显示器件的亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示器件

说明书

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种显示器件的亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示器件。

背景技术

在目前制作工艺条件下，有机电致发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)显示器件存在空间上和时间上的不均匀性问题，并且随着显示器件尺寸的变大，此类问题暴露的愈发明显，因此解决大尺寸OLED显示器件的显示不均匀性成为量产中不可缺少的关键技术之一。OLED显示器件的显示不均匀性与制作工艺紧密相关，当整个面板上的阈值电压的值有较大的差异时，显示器件整体的亮度均匀性变差；同时，使用的有机材料在其自身的寿命期间也存在亮度不断变化的问题。这都使得仅通过工艺上的改进不能完全解决此类问题，只能通过各种补偿性的驱动来解决。

补偿方法可以分为内部补偿和外部补偿两大类。内部补偿是指在像素内部利用薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)构建的子电路进行补偿的方法；外部补偿是指将TFT或OLED信号抽取到背板外部，再通过外部专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)进行补偿的方法。通常内部补偿的像素结构和驱动方式都较复杂，且补偿效果仅限于TFT阈值电压和线路压降，并不能解决残像问题；同时在大尺寸高分辨率和高刷新频率的显示应用中，内部补偿的方式会造成开口率降低、驱动速度慢的问题。而外部补偿的方式具有像素结构简单，驱动速度快和补偿效果好的优点，因此在大尺寸主动矩阵有机电致发光二极管(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，AMOLED)显示中，外部补偿方案被认为是较佳地补偿方案。

外部补偿根据数据抽取方法的不同又可以分为光学抽取式和电学抽取式。光学抽取式是指将背板点亮后通过光学电荷耦合器件(Charge Coupled Device，CCD)照相的方法将亮度信号抽取出来，电学抽取式是指通过驱动芯片的感应电路将TFT和OLED的电学信号抽取出来。两种方法抽取的信号种类不同，因此数据处理的方式也不同。光学抽取的方式具有结构简单，方法灵活的优点，因此在现阶段被广泛采用。

图1是现有技术中一种外部光学补偿方案的方法示意图，光学感应器件通常是CCD照相机。该方法通过将照相所得到的亮度值与理想值做比较，然后选取恰当的灰阶偏移量ΔG采用逐步逼近的方式来进行，如图2所示。这种方法的补偿精度取决于ΔG的大小，补偿范围为(2ⁿ-1)ΔG，n为测量次数。因此为了提高精度，需要减小ΔG，而为了扩大补偿范围，只能增加测量次数，而且对每一种灰阶，都需进行多次测量和比较，效率很低。由于测量消耗的时间很长且会增大数据处理量，这种方法在量产中不会被采用。

因此，如何实现量产中高效率的外部光学补偿成为大尺寸AMOLED产品化的技术问题之一。

发明内容

本发明实施例提供了一种显示器件的亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示器件，用以在提高显示器件亮度均匀性的过程中，提高对显示器件亮度信息抽取的效率。

本发明实施例提供的一种显示器件的亮度补偿方法，包括：

针对输入图像中与显示器件相对应的每一子像素，具体执行：

获取当前子像素的输入灰阶值，以及与当前子像素对应的函数关系；所述函数关系为：预先针对显示器件的每一个子像素，根据该子像素在多个不同灰阶值的测试图案下的测试亮度值和目标亮度值确定出来的、该子像素对应的补偿后的灰阶值与输入灰阶值的对应关系；

利用该子像素的输入灰阶值和对应的所述函数关系，得到该子像素对应的补偿后的灰阶值，根据补偿后的灰阶值对该子像素进行亮度补偿。

本发明实施例提供的上述亮度补偿方法，预先根据每一子像素在多个测试图案下的测试亮度值和目标亮度值，设置该子像素对应的补偿后的灰阶值与输入灰阶值的函数关系，在显示器件正常显示时，针对输入图像中与显示器件相对应的每一子像素，获取每一子像素对应的函数关系，利用该子像素对应的所述函数关系对该子像素进行亮度补偿，不需要针对每一测试图案进行多次测量，从而在提高显示器件亮度均匀性的过程中，提高了对显示器件亮度信息抽取的效率。

较佳地，预先针对每一子像素，根据该子像素在多个不同灰阶值的测试图案下的测试亮度值和目标亮度值，确定出所述对应关系，包括：

对于每一子像素，

根据多个测试灰阶值和该多个测试灰阶值下的测试亮度值，确定该子像素的测试亮度值与输入灰阶值的函数关系；