[发明专利]一种光学八细分线性干涉仪有效
申请号: | 201410234521.3 | 申请日: | 2014-05-29 |
公开(公告)号: | CN104006739A | 公开(公告)日: | 2014-08-27 |
发明(设计)人: | 王君博;尉昊赟;赵世杰;李岩 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01B9/02 | 分类号: | G01B9/02;G01B11/02 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 贾玉健 |
地址: | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 细分 线性 干涉仪 | ||
1.一种光学八细分线性干涉仪,其特征在于,包括偏振分光棱镜(100)、矩形角镜(200)、第一四分之一波片(300)、第二四分之一波片(500)、第一角锥棱镜(400)和第二角锥棱镜(600),其中,所述矩形角镜(200)胶结于偏振分光棱镜(100)入射面的一个侧面的上半部分,且矩形角镜(200)的胶合面、偏振分光棱镜(100)的入射面和分束面交于同一侧棱;所述第一四分之一波片(300)胶结于偏振分光棱镜(100)入射面的正对面;第二四分之一波片(500)胶结于偏振分光棱镜(100)入射面的另一个侧面;所述第一角锥棱镜(400)作为测量臂角锥棱镜,与被测对象固结且其折射面对应第一四分之一波片(300),所述第二角锥棱镜(600)作为参考臂角锥棱镜,且其折射面对应第二四分之一波片(500)。
2.根据权利要求1所述的光学八细分线性干涉仪,其特征在于,所述第一四分之一波片(300)和第二四分之一波片(500)在矩形角镜(200)对应高度的出射面上镀增透膜,在其余位置镀高反膜。
3.根据权利要求1所述的光学八细分线性干涉仪,其特征在于,所述第一四分之一波片(300)的上半部分(301)和第二四分之一波片(500)的上半部分(501)均镀增透膜,第一四分之一波片(300)的下半部分(302)和第二四分之一波片(500)的下半部分(502)均镀高反膜。
4.根据权利要求1所述的光学八细分线性干涉仪,其特征在于,所述第一四分之一波片(300)和第二四分之一波片(500)为采用相同材料和工艺制造的真零级波片,并按玻璃、石英波片、玻璃的三明治结构胶合,具有相同的光学厚度,且波片光轴均沿对角线方向。
5.根据权利要求1所述的光学八细分线性干涉仪,其特征在于,所述第一角锥棱镜(400)和第二角锥棱镜(600)采用相同玻璃制造,镀铝反射膜,且两镜顶点到各自镜底面的距离相同。
6.根据权利要求1所述的光学八细分线性干涉仪,其特征在于,所述光学八细分线性干涉仪的入射光源来自双频激光器,包含垂直偏振输出频率f1和水平偏振输出频率f2,且两频率之差在几十MHz以内。
7.根据权利要求1所述的光学八细分线性干涉仪,其特征在于,入射光束经偏振分光棱镜(100)分束后,参考光路四次往返于第二角锥棱镜(600),测量光路四次往返于第一角锥棱镜(400)。
8.根据权利要求7所述的光学八细分线性干涉仪,其特征在于,参考光路和测量光路合束后输出光信号经光电检测与相位解算,计算出位移信息,所求位移量是光程变化量的1/8。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410234521.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。