[发明专利]一种晶闸管芯片门极测试工装有效

专利信息
申请号: 201410230402.0 申请日: 2014-05-28
公开(公告)号: CN105137315B 公开(公告)日: 2018-04-13
发明(设计)人: 邓湘凤;贺坚;方凌;邹培根;沈显长;刘艳;杨谦成;严冰;刘晓珍 申请(专利权)人: 株洲南车时代电气股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙)43008 代理人: 赵洪,周长清
地址: 412001 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 晶闸管 芯片 测试 工装
【说明书】:

技术领域

发明主要涉及到晶闸管芯片领域,特指一种用来对晶闸管芯片进行门极测试的工装。

背景技术

晶闸管芯片的门极参数IGT、VGT是晶闸管的重要参数。如图1所示,为行业标准中用来测试门极触发电流IGT和触发电压VGT的电路原理示意图。从测试电路原理图中可以看出,门极触发电流IGT、门极触发电压VGT的测试需要在被测管芯的门阴极之间施加电信号,被测管芯阴阳极之间也需施加规定的断态电压。为了完成测试,需要有分别给予门极、阴极、阳极信号的接触部件。因此,为了获得晶闸管管芯的门极触发电流IGT和触发电压VGT,目前行业中普遍采用工装来完成门极触发电流、电压的测试。这类传统的工装包括升降台、阴极顶针、门极顶针及阳极接触铜块。通过升降台的上下动作来完成测试,门极信号、阴极信号通过导线输出到被测管芯,管芯阳极面置于阳极接触铜块上,阳极信号由阳极接触铜块下方的导线给出。

但是,现有的工装在使用过程中存在一些明显的不足:

(1)顶针接触不良:顶针容易老化,使用一段时间后,不能达到100%良好接触管芯门极;

(2)对心不准 :工装中无定位点,测试门极对准管心完全是凭手感,准确率不高,效率低下;

(3)易刮伤管芯 :测试时需要双手同时操作测试,左手提顶针,右手取管芯,节奏的配合不当便会刮伤管芯表面。

发明内容

本发明要解决的技术问题就在于:针对现有技术存在的技术问题,本发明提供一种结构简单紧凑、制作方便、操作简便、可提高测试效率和测试效果的晶闸管芯片门极测试工装。

为解决上述技术问题,本发明采用以下技术方案:

一种晶闸管芯片门极测试工装,包括测试夹具,所述测试夹具包括底座、蝶形定位器、门极顶针、阴极顶针及阴极顶针移动组件,所述蝶形定位器位于底座的上方,所述蝶形定位器上开设有用来放置待测试芯片的芯片卡槽,所述阴极顶针和门极顶针均安装于底座内且位于蝶形定位器的下方,所述门极顶针位于底座的中部且固定不动,所述芯片卡槽上设有与门极顶针配合的门极配合孔,所述阴极顶针安装于阴极顶针移动组件上并可以在阴极顶针移动组件的驱动下沿着蝶形定位器的径向方向运动,所述芯片卡槽上沿着径向方向开设有供阴极顶针运动的阴极顶针移动槽。

作为本发明的进一步改进:所述芯片卡槽位于蝶形定位器的中间,呈圆形状。

作为本发明的进一步改进:所述阴极顶针移动组件包括丝杆和移动部件,所述移动部件通过螺纹连接于丝杆上,所述阴极顶针安装于移动部件上。

作为本发明的进一步改进:所述丝杆穿设于底座的侧壁上,在所述丝杆远离底座的一侧上还设有调节旋钮。

作为本发明的进一步改进:所述门极顶针通过安装部件连接于丝杆上,所述安装部件空套连接于丝杆上。

作为本发明的进一步改进:在芯片卡槽上设有限位部件,用来对放入芯片卡槽中的待测试芯片的放置位置进行限位。

作为本发明的进一步改进:所述蝶形定位器上设置一根以上的弹簧,所述弹簧的高度高于阴极顶针和门极顶针。

与现有技术相比,本发明的优点在于:本发明的晶闸管芯片门极测试工装,结构简单紧凑、制作方便、操作简便,利用蝶形定位器可以确保待测试芯片的摆放位置,门极顶针设置在夹具内固定不动,保证了对准性和接触效果;可移动式的阴极顶针则是其适用于各种规格的管芯,大大扩展了其适用性。

附图说明

图1是测试门极触发电流和触发电压的电路原理示意图。

图2是本发明的结构原理示意图。

图例说明:

1、调节旋钮;2、阴极顶针;3、底座;4、蝶形定位器;401、芯片卡槽;5、阴极顶针移动槽;6、门极顶针;7、丝杆;8、移动部件;9、侧壁;10、测试夹具。

具体实施方式

以下将结合说明书附图和具体实施例对本发明做进一步详细说明。

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