[发明专利]双光束分光光度计及其采集分析处理方法

权利要求书

1.一种接收参考光束和通过样品的样品光束的入射从而对样品的吸光度进行检测分析的双光束分光光度计，其特征在于，包括：

正交信号发生部，设有位于圆盘本体中心点的旋转轴心、以所述旋转轴心为圆心半径不同的用于分别将所述参考光束和所述样品光束遮断形成参考预定序列光信号和样品预定序列光信号的第一预定序列光信号形成孔圈和第二预定序列光信号形成孔圈以及位于边缘的旋转周期测定通孔；

光电转换部，设置在所述正交信号发生部的一侧，用于接收所述参考预定序列光信号和所述样品预定序列光信号并基于第三预定序列产生暗电流信号，以及将所述参考预定序列光信号、所述样品预定序列光信号和所述暗电流信号所合并而成的复合光信号转换为复合电信号；

两个反光部，分别设以一定角度将所述参考预定序列光信号和所述样品预定序列光信号反射至所述光电转换部；

周期反馈部，设有与所述正交信号发生部的边缘相嵌装的凹槽，及对应于所述旋转周期测定通孔两侧分别对向安装在所述凹槽两个凸起部上的感光接收部和光源发射部，用于反馈所述正交信号发生部的旋转周期；

电机，与所述旋转轴心相连接，用于带动所述正交信号发生部以预定旋转周期转动；

放大转换部，与所述光电转换部相连接，用于将所述复合电信号放大为放大复合电信号并将所述放大复合电信号转换为数字复合电信号；以及

FPGA分析部，与所述放大转换部相连接，用于接收所述数字复合电信号并通过相应的还原公式分离还原出所述参考预定序列光信号、所述样品预定序列光信号和所述暗电流信号，再根据吸光度公式计算出所述样品的吸光度，

其中，所述第一预定序列光信号形成孔圈以第一预定序列排列的透光通孔来开通所述圆盘本体，

所述第二预定序列光信号形成孔圈将与所述第一预定序列相正交形成所述第二预定序列，以该第二预定序列排列的透光通孔来开通所述圆盘本体，

所述第三预定序列由所述参考光束或所述样品光束中任意一个通过所述透光通孔的第一数值和所述参考光束或所述样品光束均未通过所述透光通孔的第二数值相组合排列形成，

所述FPGA分析部，包含：

存储部，用于存储第一预定序列、第二预定序列、第三预定序列和预定旋转周期；

计算部，通过将所述数字复合电信号与所述第一预定序列、所述第二预定序列和所述第三预定序列分别相比对，根据由相应的还原公式分别计算还原出所述参考预定序列光信号、所述样品预定序列光信号和所述暗电流信号，再基于所述吸光度公式计算出所述样品的所述吸光度；以及

控制部，与所述存储部和所述计算部分别相连接，根据以所述光源发射部和所述感光接收部之间的接通周期，即旋转周期和所述预定周期控制所述电机带动所述正交信号发生部匀速旋转。

2.根据权利要求1所述的双光束分光光度计，其特征在于，还包括：

其中，所述透光通孔的形状为弧形圆环，所述第一预定序列光信号形成孔圈有复数个所述弧形圆环以所述第一序列围合形成。

3.根据权利要求1所述的双光束分光光度计，其特征在于，还包括：

其中，所述第二预定序列光信号形成孔圈有复数个所述弧形圆环以所述第二序列围合形成。

4.根据权利要求1所述的双光束分光光度计，其特征在于，还包括：

其中，所述还原公式包含参考预定序列光信号还原公式，公式为R_refer[i]＝sum(Seq_referA×Data[i])。

5.根据权利要求1所述的双光束分光光度计，其特征在于，还包括：

其中，所述还原公式包含样品预定序列光信号还原公式，公式为R_samp[i]＝sum(Seq_sampB×Data[i])。

6.根据权利要求1所述的双光束分光光度计，其特征在于，还包括：

其中，所述还原公式包含暗电流信号还原公式，公式为R_dark_current[i]＝sum(Seq_dark_currentC×Data[i])。