[发明专利]稳压器有效

专利信息
申请号: 201410223523.2 申请日: 2014-05-23
公开(公告)号: CN104181966B 公开(公告)日: 2017-12-19
发明(设计)人: 矢萩显仁;井村多加志;中下贵雄 申请(专利权)人: 精工半导体有限公司
主分类号: G05F1/56 分类号: G05F1/56
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 何欣亭,王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 稳压器
【说明书】:

技术领域

本发明涉及稳压器,更具体涉及稳压器的测试电路。

背景技术

图2示出现有的稳压器的框图。

现有的稳压器具备基准电压电路2、分压电路3、输出晶体管4、差动放大电路10、和恒流电路11,从输入电压Vin输出既定的输出电压Vout。

稳压器具备用于过电流保护或过热保护的保护电路13。保护电路13是保护稳压器的电路的重要的电路,因此要求精度。因而,在制造工序中,测定其特性,进行精度的调整。为此,具备测试用的电路或测试端子。

此外,稳压器要求为低消耗电流,因此例如需要精度良好地调整差动放大电路10的尾电流I10。一般,尾电流I10是通过修整(trimming)恒流电路11的晶体管等来调整的(例如,参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开平4-195613号公报。

发明内容

然而,因为仅在集成电路内部使用的恒流,而为了精度良好地调整尾电流I10,需要测定用的端子,因此存在面积变大的课题。

于是,本发明的稳压器,通过将测定差动放大电路10的尾电流I10的端子与保护电路13的测试端子共用,不增加测试端子而能够精度良好地进行测定。

本发明的稳压器,将测定尾电流I10的端子和保护电路13的测试端子共用,因此不会增加测试端子而能够精度良好地进行测定。

附图说明

图1是示出第一实施方式的稳压器的电路图;

图2是现有的稳压器的框图;

图3是示出第二实施方式的稳压器的电路图;

图4是示出第三实施方式的稳压器的电路图。

具体实施方式

以下,参照附图,对本发明的稳压器进行说明。

<第一实施方式>

图1是示出第一实施方式的稳压器的电路图。

第一实施方式的稳压器具备:基准电压电路2、分压电路3、输出晶体管4、差动放大电路10、恒流电路11、保护电路13、电流输出电路14、控制电路15、开关电路16、和熔丝17及18。第一实施方式中,以过热保护电路为例说明保护电路13,但是也可为过电流保护电路或其它的保护电路。

输出晶体管4连接在电源端子1与输出端子5之间。分压电路3连接在输出端子5与接地端子6之间。差动放大电路10的输入端子与基准电压电路2的输出端子和分压电路3的输出端子连接,输出端子与输出晶体管4的控制端子连接。恒流电路11与差动放大电路10连接。保护电路13的输出端子与输出晶体管4的控制端子连接。

在此关于保护电路13,这里以作为过热保护电路进行说明。保护电路13中感温元件101的输出端子经由熔丝18与测试端子Tio连接。此外,被供给工作电流的电流路径上连接有开关电路16。开关电路16是通过控制电路15来控制导通断开。控制电路15也可为例如在检测到输出端子5的过电流时使开关电路16导通的电路。此外,控制电路15也可为例如在检测到输出端子5上输入了表示测试开始的电压时使开关电路16断开的电压检测电路。恒流电路11是使差动放大电路10的工作电流流过的电路,具备恒流源和构成电流镜的晶体管和修整用熔丝。电流输出电路14经由熔丝17连接在测试端子Tio与恒流电路11之间。电流输出电路14具备将恒流电路11的电流镜像的NMOS晶体管21和PMOS晶体管22、23。

如上所述的稳压器如下工作,从而能够测定电路的特性。

首先,说明测定恒流电路11的电流的方法。

控制电路15以使开关电路16断开的方式进行控制。因而,测试端子Tio成为在与接地端子6之间连接二极管的状态。在该状态下,对电源端子1输入电源电压Vin,使稳压器工作。

NMOS晶体管21将恒流电路11的电流镜像。而且,PMOS晶体管22和23构成电流镜电路,将NMOS晶体管21的电流镜像。

因而,若在测试端子Tio与接地间连接电流计,则电流计的阻抗比二极管的阻抗低,因此能够测定恒流电路11的电流。

然后,基于该测定值,修整恒流电路11的电流值、即差动放大电路10的尾电流I10,可精度良好地进行调合。

接着,说明测定保护电路13的特性的方法。

由于结束了恒流电路11的测定,所以熔丝17被切断。控制电路15使开关电路16导通。在该状态下,对电源端子1输入电源电压Vin,使稳压器工作。稳压器从输出端子5输出既定的输出电压Vout。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工半导体有限公司,未经精工半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410223523.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top