[发明专利]X射线安全检查设备的透明防辐射罩

说明书

技术领域

本发明涉及X线防护技术领域，具体涉及一种X射线安全检查设备的透明防辐射罩。

背景技术

本发明主要根据光在周期性材料组成的光子晶体中发生散射和多次干涉，形成光子禁带。在禁带内，X线经过介电函数散射后，某些波段的X线强度会因破坏性干涉而呈现指数衰减，无法在系统内传递。起到X射线的防护效果。目前公共场所出现的X射线安全检查设备的防辐射罩全部都是金属质地的，没出现透明材质的防护设施。看不到行李在安检舱内倾倒、堆卡的情况。并且易在出口处拥挤、抢拿、错拿行李。正常的上班族年均X线辐射量以最高数据作为计算标准，接受辐射的有效剂量可达到大约0.007mSv，除此之外单层的铅帘在被拉起时辐射激增，会造成乘客的健康隐患。

 

发明内容

本发明为解决上述技术问题，提供X射线安全检查设备的透明防辐射罩，实现透明安检设备，发明的目的就是弥补现有设备的缺点，更有效地防护经常过安检乘客的健康安全。

为实现上述技术目的，本发明所采用的技术方案是： X射线安全检查设备的透明防辐射罩，设有金属框架，在金属框架的两侧设有侧罩板，在其顶部设有上罩板，侧罩板与上罩板组成待检货物通道，在待检货物通道内挂设有多条无缝拼接地辐射屏蔽条，所述的上罩板由透明玻璃和镀设在透明玻璃上的光子晶体膜组成，光子晶体膜是由5层硫化锌和5层氟化镁相互交替叠加构成型复合结构，其中A介质、C介质、E介质、H介质和M介质的成份均相同，为硫化锌，B介质、D介质、F介质、L介质和N介质的成份均相同，为氟化镁，A介质的厚度为2.69nm，B介质的厚度为5.07nm，C介质的厚度为1.92nm， D介质的厚度为3.62nm，E介质的厚度为1.153nm，F介质的厚度为2.17nm，H介质的厚度为0.865nm,L介质的厚度为1.63nm，M介质的厚度为0.67nm，N介质的厚度为1.26nm，A介质贴合透明玻璃设置。

本发明的有益效果是：在顶部采用的镀有光子晶体膜的X线防辐射玻璃可达到防辐射及行李可视化的作用，避免了行李在安检舱内倾倒、堆卡和乘客在行李在出口处拥挤、抢拿、错拿行李的困扰；另外两侧采用增厚型铅板，无缝拼接的双帘（无缝拼接的铅帘采用双层）结构，最大限度杜绝了经常需要过安检的乘客的健康隐患；增大的行李传输带长度也可以避免行李在出口处拥堵。除此之外组成光子晶体的介质材料的更经济，性价比比较高，环保性也有所提高。

附图说明

图1是本发明X射线安全检查设备的透明防辐射罩的立体透视图。

图2是本发明X射线安全检查设备的透明防辐射罩的主视图。

图3是本发明X射线安全检查设备的透明防辐射罩的侧视图。

图4是本发明X射线安全检查设备的透明防辐射罩的俯视图。

图5是本发明X射线安全检查设备的透明防辐射罩的光子晶体膜的结构示意图。

图6是本发明X射线安全检查设备的透明防辐射罩的光子晶体的禁带仿真图。

图中：1、金属框架，2、侧罩板，3、辐射屏蔽条，4、上罩板，5、横杠，6、传送带，7、行李缓冲台。

具体实施方法

如图所示，X射线安全检查设备的透明防辐射罩，包括金属框架1，金属框架1长为1米，所述金属框架1外侧固定设置侧罩板2和上罩板4，所述侧罩板2为增厚型铅板，所述上罩板4为镀有光子晶体膜的防辐射玻璃，形成待检货物通道；横杠5上固定挂设若干跟无缝拼接地辐射屏蔽条3，所述横杠5之间相距0.5米，辐射屏蔽条3宽为0.1米，且为橡胶材质，并含有铅质夹层，所有辐射屏蔽条3组合后对所述待检货物通道方向形成辐射屏蔽，传送带6为5米，行李缓冲台7，整个装置长为2米，宽为1米，高为1米。

防辐射玻璃上的光子晶体膜是由5层硫化锌和5层氟化镁相互采用异质                                               的形式进行光子晶体的复合构成，即，其中A=C=E=H=M=ZnS,B=D=F=L=N=MgF₂，A代表2.69nm厚的硫化锌，B代表5.07nm厚的氟化镁，C代表1.92nm厚的硫化锌，用D代表3.62nm厚的氟化镁，E代表1.153nm厚的硫化锌，F代表2.17nm厚的氟化镁，H代表0.865nm厚的硫化锌,L代表1.63nm厚的氟化镁，M代表0.67nm厚的硫化锌，N代表1.26nm厚的氟化镁。该光子晶体膜实现对波长5.38-35.03nm的X射线进行反射，同时不影响透光效果。