[发明专利]影像感测器的测试装置及其测试方法在审
申请号: | 201410216783.7 | 申请日: | 2014-05-22 |
公开(公告)号: | CN104049195A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | 陈建名 | 申请(专利权)人: | 致茂电子(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01M11/00 |
代理公司: | 上海宏威知识产权代理有限公司 31250 | 代理人: | 袁辉 |
地址: | 215011 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 影像 感测器 测试 装置 及其 方法 | ||
1.一种影像感测器的测试装置,其特征在于,包括:
一测试头,其具备一晶片取放及光传输通道,该晶片取放及光传输通道包括一第一端面、及一第二端面,该第一端面与该第二端面是彼此相对;其中,该第一端面是耦接至一光源装置,该第二端面用以抵接至一影像感测器的一光感测面,该光源装置所发出的光藉由该晶片取放及光传输通道而输送至该影像感测器的该光感测面;
其中,
该晶片取放及光传输通道更连通至一负压源,其驱使该晶片取放及光传输通道的该第二端面取放该影像感测器。
2.根据权利要求1所述的影像感测器的测试装置,其特征在于:其中,该晶片取放及光传输通道的侧壁开设至少一排气口,该测试头更包括一排气道,该排气道的一端连通至该至少一排气口,该排气道的另一端耦接至该负压源。
3.根据权利要求2所述的影像感测器的测试装置,其特征在于:其中,该晶片取放及光传输通道的侧壁开设二排气口,该二排气口分设于该晶片取放及光传输通道的相同轴向高度而不同径向方位处。
4.根据权利要求1所述的影像感测器的测试装置,其特征在于:其更包括一晶片插槽,其位于该测试头下方并供容设该影像感测器。
5.根据权利要求4所述的影像感测器的测试装置,其特征在于:其更包括一移载梭车,该移载梭车可选择地移入或移出该测试头与该晶片插槽之间。
6.根据权利要求4所述的影像感测器的测试装置,其特征在于:其中,该晶片插槽的槽底面布设有多个金属垫,该影像感测器更包括布设有多个接点的一下接面,该影像感测器的该多个接点分别对应于该多个金属垫。
7.一种影像感测器的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
(A).一测试头包括连通至一负压源的一晶片取放及光传输通道,该测试头通过该晶片取放及光传输通道吸取一影像感测器,并移载该影像感测器至一晶片插槽内;
(B).该测试头通过该晶片取放及光传输通道向该影像感测器照射光源,该影像感测器进行检测;以及
(C).检测完毕,该测试头通过该晶片取放及光传输通道吸取该影像感测器,并将该影像感测器移出该晶片插槽。
8.根据权利要求7所述的影像感测器的测试方法,其特征在于:其中,在该步骤(A)中包括以下步骤:
(A1).一移载梭车移至该测试头下方,该移载梭车上承载有该影像感测器;
(A2).该测试头的该晶片取放及光传输通道下降并至该移载梭车上吸取该影像感测器;
(A3).该测试头的该晶片取放及光传输通道上升,该移载梭车移出远离该测试头下方;以及,
(A4).该测试头的该晶片取放及光传输通道下降,使该影像感测器插设于该晶片插槽内。
9.根据权利要求8所述的影像感测器的测试方法,其特征在于:其中,在该步骤(C)中包括以下步骤:
(C1).该测试头通过该晶片取放及光传输通道吸取该影像感测器,并上升将该影像感测器移出该晶片插槽;
(C2).该移载梭车移至该测试头下方;
(C3).该测试头的该晶片取放及光传输通道下降并将该影像感测器放置于该移载梭车上;以及,
(C4).该测试头的该晶片取放及光传输通道上升,该移载梭车移出远离该测试头下方。
10.根据权利要求7所述的影像感测器的测试方法,其特征在于:其中,在该步骤(B)中,该影像感测器进行检测时,该测试头的该晶片取放及光传输通道始终抵接于该影像感测器。
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