[发明专利]一种针对叠前地震数据共成像点道集的能量校正方法在审

专利信息
申请号: 201410211541.9 申请日: 2014-05-19
公开(公告)号: CN105093323A 公开(公告)日: 2015-11-25
发明(设计)人: 张克非;肖鹏飞;梁志强;李呈呈;林正良;朱童 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院
主分类号: G01V1/36 分类号: G01V1/36
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 郭韫
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 针对 地震 数据 成像 点道集 能量 校正 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于地球物理成像领域,具体涉及一种针对叠前地震数据共成像点道集的能量校正方法,针对kirchhoff时间偏移得到的共成像点道集实现保持AVA特征。

背景技术

随着油气勘探的不断深入,油气藏类型由简单的构造油气藏转变为复杂的岩性油气藏,单一的叠后数据已经不能满足储层预测的需要,基于具有丰富信息的叠前地震数据的反演技术(即AVO/AVA反演技术)越来越得到人们的重视。AVO/AVA反演技术利用地震反射振幅在不同偏移距或者角度的相对改变特征量化反射界面上下介质弹性参数的变化,其理论基础是Zoeppritz方程和它的各种简化式。

叠前时间偏移后的共成像点道集基本消除了界面弯曲和倾斜地层对振幅的影响,并且从理论上讲,反射波的振幅更接近于AVO/AVA分析的假设条件(反射层是水平的),因此共成像点道集被广泛的用于叠前储层预测中。但是在实际地震资料应用当中,地震成像仍以构造成像为主,很少为地震储层描述而进行保持动力学特征的处理尤其是叠前弹性参数反演需要的共成像点道集数据,而Zoeppritz方程认为有效信号在宽角度条件下随着偏移距变化应表现为抛物线特征,在共成像点道集中常常由于采集等因素影响到共成像点道集的能量因此无法得到这种抛物线特征。

目前对共成像点道集进行能量补偿的常规做法大体分为2种:基于模型AVO特征的背景趋势能量补偿,该方法为模型驱动,对一定时窗内道集偏移距振幅能量变化进行统计,通过模型AVO趋势与实际AVO趋势进行比较,求取随偏移距变化的刻度因子,最后将刻度因子用于实际道集,实现目的层背景趋势意义下的偏移距振幅能量补偿。但应用该方法的前提是区域地质特征明确对有利储层区域和非有利储层区域有一定的了解,但该条件往往无法满足。另外一种是大时窗多道能量均衡方法,即根据CMP道集中覆盖次数信息对叠前时间偏移后共成像点道集进行基于覆盖次数的能量调整。覆盖次数通常指的是采集的时候,所有的炮对某一个共中心点的满覆盖次数,而Kirchhoff偏移的原理是将每一个地震道对偏移孔径内的地下成像点的贡献累加起来,简单的用覆盖次数进行校正,明显不能满足偏移孔径内的地震数据量变化复杂的要求。

发明内容

本发明的目的在于解决上述现有技术中存在的难题,提供一种针对叠前地震数据共成像点道集的能量校正方法,针对由于地震采集的观测系统导致的,叠前时间偏移得到的共成像点道集存在中入射角能量强、近远入射角能量弱的问题,通过在偏移的过程中统计照明次数,而不是简单的以覆盖次数作为校正标准,对叠前时间偏移得到的共成像点道集进行AVA特征恢复,旨在得到不受观测系统影响的、保留真实AVA特征的叠前道集,利用该道集进行后续的叠前弹性参数反演和AVA分析可以得到更准确的结果。

本发明是通过以下技术方案实现的:

一种针对叠前地震数据共成像点道集的能量校正方法,通过统计每个成像点对应的照明次数,对叠前时间偏移得到的共成像点道集以照明次数为基础进行保持AVA特征的能量校正。

所述方法包括以下步骤:

(1)利用时间偏移速度对叠前未动较共中心点道集进行叠前时间偏移,得到偏移后的共成像点道集,同时统计每一个成像点处的照明次数,得到照明次数体;

(2)对照明次数体设定最大阈值和最小阀值;

(3)将偏移后的共成像点道集中的每一成像点处的振幅值除以该成像点对应的照明次数值,得到校正后的叠前时间偏移道集;

(4)判断所述校正后的叠前时间偏移道集的效果是否保持了AVA特征,如果否,则修改照明次数体的最小阈值,然后返回步骤(3),如果是,则所述校正后的叠前时间偏移道集为最后的校正结果。

所述步骤(1)中的照明次数是指在叠前偏移成像过程中根据地震射线路径信息统计照射到成像点处各个照明角度面元的次数,即偏移孔径内所有地震数据对成像点处有一个次的贡献,照明次数就增加一次;所述照明次数体与叠前时间偏移得到的偏移后的共成像点道集的格式、大小一样,其每一个值代表的是与之对应的成像点的照明次数。

所述步骤(2)具体如下:

筛选出所述照明次数体中照明次数的最大值和最小值,设置照明次数的最小阀值,最大值保留不变作为最大阈值,对于照明次数体中照明次数小于最小阈值的,则使其等于最小阈值。

所述步骤(4)中,如果最终得到的校正后道集中存在过校正的情况,则对存在过校正问题的道集进行切除,切除后的道集AVA特征与共成像点道集对应井资料计算得到目的层的AVA特征类似,可以验证切除后的道集上的AVA特征是正确的。

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