[发明专利]数字电路故障检测电路及利用该电路测试故障的方法有效

专利信息
申请号: 201410211193.5 申请日: 2014-05-16
公开(公告)号: CN103954905A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 朱敏;陈宇;刘永丹;杨春玲;王荔 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01R31/3181 分类号: G01R31/3181
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 岳泉清
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 数字电路 故障 检测 电路 利用 测试 方法
【权利要求书】:

1.数字电路故障检测电路,其特征在于,该电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、、第一路光耦合器(U1)、第二路光耦合器(U2)、电源VCC和一对互补的三极管:NPN型三极管(Q1)和PNP型三极管(Q2);

电阻R1的一端与电阻R2的一端相连,且电阻R1的一端与电阻R2的一端为检测信号输入端,电阻R1的另一端连接NPN型三极管(Q1)的基极,NPN型三极管(Q1)的发射极连接电源VCC,NPN型三极管(Q1)的集电极连接电阻R3的一端,电阻R3的另一端连接第一路光耦合器(U1)的发光二极管的阳极,第一路光耦合器(U1)的发光二极管的阴极连接电源地;第一路光耦合器(U1)的光敏三极管的集电极连接电阻R5的一端,且该集电极为测试信号输出端,电阻R5的另一端连接电源VCC,第一路光耦合器(U1)的光敏三极管的发射极连接电源地;

电阻R2另一端连接PNP型三极管(Q2)的基极,PNP型三极管(Q2)的发射极连接电源地,PNP型三极管(Q2)的集电极连接第二路光耦合器(U2)的发光二极管的阴极,第二路光耦合器(U1)的发光二极管的阳极连接电阻R4的一端,电阻R4的另一端连接电源VCC;

第二路光耦合器(U2)的光敏三极管的集电极连接电阻R6的一端,且该集电极为测试信号输出端,电阻R6的另一端连接电源VCC,第二路光耦合器(U2)的光敏三极管的发射极连接电源地。

2.利用权利要求1所述的数字电路故障检测电路测试故障的方法,其特征在于,该方法的具体步骤为:

步骤一、获取被测电路的互连信息;

所述电路的互连信息包括电路中元器件的型号、标号,各芯片引脚的互连状态,引脚的输入输出属性;

步骤二、根据电路的互连信息向被测电路中的所有输出引脚,施加全“1”测试激励,然后从所有对应的输入引脚获得测试响应;获得电路固定0,故障和开路故障的支路;具体为:

若某输入引脚的响应数据为“0”状态,判定该引脚所属的互连网络为固定0故障;若某输入引脚的响应数据为开路状态,判定该引脚所属的互连网络为开路故障;

步骤三、根据步骤二的测试获得电路固定0故障和开路故障的支路,剔除已检测出的开路故障和固定0故障的互连网络,向剩余网络中的输出引脚施加全“0”测试激励,获得测试引脚的响应;进而获得固定1故障的支路;

若施加全“0”测试激励的引脚获得的响应数据为“1”状态,判定该引脚所属的互连网络为呆滞1故障;

步骤四、根据步骤二和步骤三的测试结果,剔除被测电路中的开路故障支路、固定0故障支路、固定1故障支路的网络,对剩余电路进行测试,获得剩余故障结果,完成利用数字电路故障检测电路的故障测试。

3.根据权利要求2所述的数字电路故障检测电路测试故障的方法,其特征在于步骤四中采用走步测试方法、计数补偿方法或棋盘格对剩余电路进行测试。

4.数字电路故障检测电路,其特征在于,该电路包括:电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电源VCC和一对互补的三极管:NPN型三极管(Q1)和PNP型三极管(Q2);

电阻R1的一端与电阻R2的一端相连,且电阻R1的一端与电阻R2的一端为检测信号输入端,电阻R1的另一端连接NPN型三极管(Q1)的基极,NPN型三极管(Q1)的发射极连接电源VCC,NPN型三极管(Q1)的集电极连接电阻R3的一端,且该集电极为测试信号输出端,电阻R3的另一端连接电源地;

电阻R2另一端连接PNP型三极管(Q2)的基极,PNP型三极管(Q2)的发射极连接电源地,PNP型三极管(Q2)的集电极连接电阻R4的一端,且该集电极为测试信号输出端,电阻R4的另一端连接电源VCC。

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