[发明专利]一种TR组件调试仪组合脉冲发生方法和控制方法

说明书

技术领域

本发明属于无线通信技术领域，具体涉及一种TR组件调试仪组合脉冲发生方法和控制方法。

背景技术

微波领域，将具有收、发微波信号放大功能及与之相应的一些电路功能组合在一起的电路简称为T/R组件。

典型的相控阵雷达是用移相器控制天线波束的发射和接收，其每个天线辐射阵元是用一个接收机和发射功能放大器的有源阵组成。

有源相控阵雷达的阵面是由大量的T/R组件、天线单元和无源馈线系统构成的、一般先由若干个T/R组件组成子阵，再由子阵通过波束合成网络形成接收波束，再由接收机进行频率变换，处理为数字信号，最后通过信号处理和数据处理达到测量目标的目的。

T/R组件承担着发射信号的主功率放大、接收微弱信号的低噪声前置放大、波束形成和扫描所需的幅相控制等功能，其性能直接标志着整个雷达的水平。一部雷达通常具有数百或数千个T/R组件，构成一个完整的有源相控阵列天线阵，它占整个雷达造价的60%左右，成为有源相控阵雷达的决定因素，并将对有源相控阵雷达的发展产生深远影响。

T/R组件是基于微博单片集成电路（MMIC）技术和微组装工艺的小型化和模块化的大功率守法组件，不但电路组成、制造工艺复杂，而且功能部件较多。

由T/R组件的电路组成及其功能可知，T/R组件需要测量的参数主要包括：发射输出功率、发射驻波、发射移相精度、发射相位噪声、发射谐波、发射杂散、接收增益、接收移相精度、接收衰减精度、接收幅相一致性、接收噪声系数、接收三阶交调、接收谐波、接收杂散、开关时间等。

T/R组件是有源相控阵阵列天线最为关键的部件，无论哪个频率段，何种用途的相控阵雷达，天线辐射单元后均接有一个固态T/R组件，T/R组件相当于相控阵雷达系统的射频前端，是包含微波、低频、大信号、小信号，数字和模拟电路为一体的复杂电子系统。一部先进的相控阵雷达对T/R组件的技术要求较多，需要使用测试系统全面精确的测试T/R组件的技术性能参数。

T/R组件测试需要用到的测试仪器仪表有脉冲矢量网络分析仪、微波信号源、频谱分析仪、示波器、脉冲功率计、噪声系数测试仪、程控电源、被测件控制电路等，这些现有的T/R组件测试仪器无法将实现测试流程的程序化、自动化、测试数据的采集和分析自动化，也无法在大批量T/R组件生产的过冲，实现T/R组件快速准确的自动化测试。

T/R组件调时试需要时序控制信号和组合脉冲，现有的调试仪器只能输出固定的时序控制信号和组合脉冲T_R信号、T信号和R信号，且只能针对固定型号的T/R组件进行调试，因为T_R信号、T信号和R信号这三个信号的频率和周期已经确定，所以如果T/R组件的型号不一致则无法在同一台调试仪上进行测试，出现测试困难或无法测试的局面，同时现有的T/R组件调试仪器所输出的组合脉冲T_R信号、T信号和R信号，无法根据T/R组件调试所需要的状态进行改变，同时现有的T/R组件调试仪不能在高频率下对T/R组件进行测试，只能在低频率范围内进行测试，这就无法保证T/R组件在应用时高频下的性能是否稳定，这是目前T/R组件测试领域亟待需要解决的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：针对现有技术的缺陷，提供一种TR组件调试仪组合脉冲发生方法和控制方法，设有时序控制模块和人机交互模块，不但可以产生T/R组件调试所需要的脉冲组合信号，而且可通过人机交互模块的面板输入T/R组件测试所需要的脉冲组合信号生成所要的参数，就可以得到不同T/R组件测试所需要的脉冲组合信号，还可以根据T/R组件测试时发射和接收状态下所需要的信号状态对脉冲组合信号T_R信号、T信号和R信号进行对应的置高置低处理，以满足T/R组件测试的需要，同时设有LVDS差分电路，可通过LVDS差分电路的转化，对高频下的时序信号进行平滑处理，使得T/R组件可以测试高频下的性能。

本发明为解决上述技术问题采用以下技术方案：

一种TR组件调试仪组合脉冲发生方法和控制方法，TR组件调试仪包括主控模块、时序控制模块和人机交互模块，主控模块分别与时序控制模块和人机交互模块相连，主控模块包括单片机，时序控制模块包括FPGA和晶振，人机交互模块包括仪器正面板和交互界面，仪器正面板上设有功能选择开关，功能选择开关与单片机相连；

组合脉冲发生方法：