[发明专利]一种基于二次平台线阵CCD的水平位置测量方法

权利要求书

1.一种基于二次平台线阵CCD的水平位置测量方法，其特征在于所述方法是按照以下步骤实现的：

步骤一、连接二次平台线阵CCD，将所有的线阵CCD摆放到预定的高度和位置；

步骤二、旋转半导体激光器，在系统中每过0.3～0.4ms都会有一个线阵CCD被扫过，从而发出一个有效的Z坐标数据；

步骤三、将所有实时得到的Z坐标数据进行计算处理，得到二次平台在水平位置的坐标的具体过程为：

步骤三(一)、将二次平台中心定义为原点，并定义出X轴、Y轴、Z轴，Z轴垂直于X轴与Y轴所形成的坐标平面，可直接从坐标平面得出各线阵的位置坐标；

步骤三(二)、设激光源以10000r/min的转速旋转，每次旋转都会打到线阵CCD上，假设在某一圈的旋转过程中，测到点A处被扫到的时间是t₁，点B处被扫到的时间是t₂，点C处被扫到的时间是t₃，由A点，B点，C点的时间差可求得激光源在从A点扫到B点以及从B点扫到C点所转过的角度：α=10000*2π60*(t1-t2),β=10000*2π60*(t2-t3);]]>

步骤三(三)、连接AB，并以AB为弦作圆，并使得其圆周角的大小为α，其圆心角为2α；连接BC，并以BC为弦作圆，并使得其圆周角大小为β，其圆心角为2β；画出的两个圆，靠近平台中心的交点设为点D，在激光扫过的扇面中，D点的圆周角ADB和圆周角BDC分别是α和β，满足激光源在从A点扫到B点以及从B点扫到C点所转过的角度，得出点D正是激光源的位置；

步骤三(四)、设点D的坐标为(x，y)，则直线AD的斜率是直线BD的斜率是直线CD的斜率是

由直线夹角公式tanΓ＝k，tanφ＝u，则得出tanα=k1-k21+k1k2,tanβ=k2-k31+k2k3;]]>

α=10000*2π60*(t1-t2)β=10000*2π60*(t2-t3)tanα=k1-k21+k1k2tanβ=k2-k31+k2k3k1=21.5-y3-xk2=12-y16.5-xk3=4-y16.5-x-15<X<15,-20<y<20]]>

至此得到D点坐标(x，y)的坐标值，从而确定出二次平台在水平位置的坐标。

2.根据权利要求1所述的一种基于二次平台线阵CCD的水平位置测量方法，其特征在于所述方法还包括对水平坐标测量结果的误差补偿的步骤四：系统中的每个CCD的响应时间分别是固定的，在迟滞时间内的平台水平坐标变化所产生的误差的补偿方法为：D点坐标(x，y)的坐标值再加上响应时间T_标定*平台的水平移动速度V，误差补偿的表达式为:D_x'＝D_x+V_x*T_标定；D_y'＝D_y+V_y*T_标定。