[发明专利]一种用于跃变物体的高精度三维面形测量的方法在审
申请号: | 201410199251.7 | 申请日: | 2014-05-12 |
公开(公告)号: | CN103940371A | 公开(公告)日: | 2014-07-23 |
发明(设计)人: | 岳慧敏;赵必玉;吴雨祥;张博;刘永 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 徐丰 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 物体 高精度 三维 测量 方法 | ||
1.一种用于跃变物体的高精度三维面形测量的方法,包括以下几个步骤:
步骤1、向被测跃变物体投影强度呈正弦分布的条纹图像,拍摄记录被跃变物体面形所调制的条纹图像,得到变形条纹;
步骤2、利用曲波变换对变形条纹进行图像去噪处理,得到高信噪比的变形条纹图;
步骤3、对经图像去噪处理后的变形条纹图进行相位解调,得到变形条纹的相位分布,然后载频去除和进行相位展开;
步骤4、得到连续的展开相位后,通过FPP的相位高度关系获得跃变物体表面的三维高度信息。
2.根据权利要求1所述的一种用于跃变物体的高精度三维面形测量的方法,其特征在于:所述步骤1中的变形条纹图I(x,y),表示为:
I(x,y)=A(x,y)+B(x,y)cos[2πf0(x,y)x+φ(x,y)]其中I(x,y)表示相机记录的光强分布,A(x,y)是背景光强,B(x,y)是调制度分布,f0(x,y)是载频的频率函数,φ(x,y)是与跃变物体表面高度相关的相位分布,(x,y)为变形条纹图像的二维坐标。
3.根据权利要求1所述的一种用于跃变物体的高精度三维面形测量的方法,其特征在于:步骤2中,变形条纹图像进行图像去噪处理,具体过程如下:
1)、采用二维连续曲波变换对变形条纹图像I(x,y)进行处理,处理过程为:
其中,C(a,b,θ)为得到的曲波系数,a为尺度因子,b是平移因子,θ是方向因子,ψa,b,θ(x,y)是曲波母函数,其傅里叶变换ψ(ω)须满足一下容许条件:
其中ω为频域积分变量,是ψ的复共轭,KΨ为积分结果;
2)、对曲波系数进行折中阈值处理,其中T是曲波系数的阈值,即将含噪图像的曲波系数C与阈值系数T进行比较,Sgn()符号函数,α为阈值调节量;
3)、对获得的系数CT进行曲波逆变换,恢复出经过去噪处理后的变形条纹图案,
ω是频域积分变量,a为尺度因子,b是平移因子,θ是方向因子。
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