[发明专利]一种校验值生成方法及系统、存储芯片

说明书

技术领域

本发明涉及打印成像设备，尤其涉及一种校验值生成方法及系统、存储芯片。

背景技术

打印成像设备，例如喷墨打印机、电子照相打印机(包括例如激光打印机和LED打印机等)和复印机等，一般都将打印耗材设置为可拆卸的方式，以便于打印耗材消耗完后，消费者能够进行更换维护。相应地，打印耗材也包括了墨盒、粉盒、硒鼓等，可统称为成像盒。

为了记录成像盒的状态以利于打印成像设备中集中管理这些安装到其上的成像盒，成像盒上可安装有一存储芯片。该存储芯片存储了有关成像盒的信息，例如产品型号、记录材料(例如墨水、碳粉)的颜色/类型和生产日期等。

因此，打印成像设备就能够通过读取成像盒上存储芯片的信息来获取成像盒的情况。由于成像盒工作在振动和粉末/潮湿混杂等较为恶劣的环境中，成像盒上的芯片数据可能会被环境影响而发生跳变。显然，如果打印成像设备每次执行打印操作前都要读取存储芯片的所有信息，那么就会导致打印操作的准备时间过长而降低了工作效率。

为了避免出现上述问题，目前业内一般采取打印成像设备只读取存储芯片的部分数据和校验值等内容，然后就开始执行打印操作。该校验值是由存储芯片对自身存储的所有数据进行计算得到的，例如采用通用的MD5算法。打印成像设备能通过校验值来得知存储芯片的所有数据是否正常。

打印成像设备需要读取校验值时，存储芯片需要对其存储的所有数据进行计算，然后才能得出校验值。这个不考虑数据的特点进行计算的过程需要花费一定的时间，并不符合当前电子设备快速响应的发展趋势。而且，校验值的计算过程也会消耗一定的电能，对于存储芯片采用电池供电的情形，会缩短存储芯片的工作寿命。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服目前存储芯片计算校验值时耗时较长以及能耗较高的不足。

为了解决上述技术问题，本申请的实施例首先提供了一种校验值生成方法，用于存储芯片根据所存储的有关成像盒的数据生成所述校验值，其中，所述有关成像盒的数据包括常改变数据和不常改变数据，该方法包括：获取所述常改变数据；获取基于所述不常改变数据预先生成的中间校验数据；采用预设算法对所述常改变数据及中间校验数据进行计算，获得所述校验值。

其中，基于所述不常改变数据预先生成的中间校验数据，包括：采用所述预设算法对所述不常改变数据预先进行计算，获得所述中间校验数据。

其中，该方法包括：在获取所述常改变数据及中间校验数据前，将会随着所述成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为所述常改变数据，将不会随着所述成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为所述不常改变数据。

其中，该方法包括：接收将所述常改变数据中的信息调整到所述不常改变数据中的第一调整操作，并根据所述第一调整操作将所述常改变数据中的信息调整到所述不常改变数据中；和/或接收将所述不常改变数据中的信息调整到所述常改变数据中的第二调整操作，并根据所述第二调整操作将所述不常改变数据中的信息调整到所述常改变数据中。

其中，该方法包括：判断所述不常改变数据是否发生了变化；在所述不常改变数据发生变化时，采用所述预设算法对变化后的所述不常改变数据进行计算，获得计算结果对所述中间校验数据进行更新；或者在所述不常改变数据发生变化时，采用所述预设算法对变化后的所述不常改变数据及所述常改变数据进行计算，获得所述校验值。

其中，判断所述不常改变数据是否发生了变化，包括：判断是否对所述存储芯片进行了测试性改写；判断所述存储芯片的连续工作时间是否达到或超过预设时长；或者判断当前的所述不常改变数据与预先生成所述中间校验数据时的所述不常改变数据是否相同；

其中，在对所述存储芯片进行了测试性改写时判断出所述不常改变数据发生了变化，在所述存储芯片的连续工作时间达到或超过预设时长时判断出所述不常改变数据发生了变化，在当前的所述不常改变数据与预先生成所述中间校验数据时的所述不常改变数据不同时判断出所述不常改变数据发生了变化。

其中，该方法包括：采用所述预设算法对当前的所述不常改变数据进行计算并获得计算结果；采用所述计算结果对所述中间校验数据进行更新，或者比较出所述计算结果与所述中间校验数据不同时采用所述计算结果对所述中间校验数据进行更新。