[发明专利]检测装置、供电系统与检测装置的控制方法有效

专利信息
申请号: 201410196813.2 申请日: 2014-05-09
公开(公告)号: CN104167825B 公开(公告)日: 2018-09-14
发明(设计)人: 大前宇一郎;宫本宗 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H02J50/60 分类号: H02J50/60;H02J7/00;G01V3/12
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置 供电系统 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种检测装置,包括:

测量线圈,由以下各项构成:

第一部分线圈,由供应给被配置为接收电力的受电线圈的磁场对所述第一部分线圈感应特定方向上的电流,

第二部分线圈,由所述磁场对所述第二部分线圈感应所述特定方向上的电流,以及

第三部分线圈,所述第三部分线圈布置在所述第一部分线圈和所述第二部分线圈之间,由所述磁场对所述第三部分线圈感应所述特定方向的反方向上的电流;

测量单元,被配置为测量所述测量线圈的电压作为测量线圈电压;以及

异物检测单元,被配置为基于所述测量线圈电压来检测所述磁场内的异物,

其中,所述第一部分线圈、所述第二部分线圈以及所述第三部分线圈的各自线圈表面的面积不同,并且其中,所述第一部分线圈、所述第二部分线圈以及所述第三部分线圈中的两个线圈布置成夹着所述受电线圈的最外边缘和最内边缘的中间的位置。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述测量单元进一步测量所述受电线圈的电压和电流;

以及其中,所述异物检测单元从所述测量线圈电压和所述受电线圈的所述电压和所述电流获取所述受电线圈的阻抗,并基于这种阻抗来检测所述异物。

3.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述测量单元进一步测量所述受电线圈的电压作为受电线圈电压;

以及其中,所述异物检测单元获取所述测量线圈电压与所述受电线圈电压之间的电压比,并基于这样的电压比来检测所述异物。

4.根据权利要求3所述的检测装置,其中,所述受电线圈按顺序接收电能不同的第一电力和第二电力;

以及其中,所述异物检测单元基于在已经接收所述第一电力的情况下获取的所述电压比与在已经接收所述第二电力的情况下获取的所述电压比之间的差来检测所述异物。

5.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述第一部分线圈、所述第二部分线圈以及所述第三部分线圈串联连接。

6.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述第一部分线圈、所述第二部分线圈以及所述第三部分线圈中的至少一个布置在所述受电线圈的最外边缘的外侧。

7.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述第一部分线圈、所述第二部分线圈以及所述第三部分线圈中的至少一个布置在所述受电线圈的最内边缘的内侧。

8.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述第一部分线圈、所述第二部分线圈以及所述第三部分线圈大体上布置在同一平面上。

9.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述第一部分线圈、所述第二部分线圈以及所述第三部分线圈布置在所述第一部分线圈、所述第二部分线圈以及所述第三部分线圈的线圈表面的中心大体上一致的位置。

10.根据权利要求1所述的检测装置,进一步包括:

传输单元,被配置为在已经检测到所述异物的情况下将用于请求减小所述电力的电能的控制信号传输至被配置为供应所述电力的供电装置。

11.根据权利要求1所述的检测装置,其中,布置所述第一部分线圈、所述第二部分线圈以及所述第三部分线圈以在所述第一部分线圈、所述第二部分线圈以及所述第三部分线圈之间产生一定的间隙。

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