[发明专利]一种POS机具空间场强测定方法有效
申请号: | 201410192055.7 | 申请日: | 2014-05-08 |
公开(公告)号: | CN105092986B | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 汪毅;张志波;雷雨;周思捷 | 申请(专利权)人: | 中国银联股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;G06F19/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 臧霁晨;汤春龙 |
地址: | 200135 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pos 机具 空间 场强 测定 方法 | ||
1.一种POS机具空间场强测定方法,其特征在于,包括下述步骤:
对应关系表建立步骤,建立模拟卡作为标准卡时的电压与磁场强度的对应关系表;
有载场强测定步骤,将模拟卡放置在POS机具表面空间的一个或多个点上,测得模拟卡的对应的一个或多个端口电压,并根据所述对应关系表获得该电压下的一个或多个场强值;以及
空间场强模型建立步骤,根据获得所述多个场强值,建立基于所述表面空间的多个点的空间场强模型,
其中,所述对应关系表建立步骤包括下述子步骤:
将模拟卡放置在测试用三层天线上;
进行场强递增扫描;
在每个场强点记录模拟卡上测得的端口电压值;
根据每个场强点上测得的端口电压值,建立模拟卡的电压与磁场强度的对应关系表。
2.如权利要求1所述的POS机具空间场强测定方法,其特征在于,在所述有载场强测定步骤之前还包括:
空载场强测定步骤,将校验线圈放置在POS机具表面,测定校验线圈的峰峰值电压Vpp,并根据所述峰峰值电压Vpp获得POS机具的空载场强H
3.如权利要求1所述的POS机具空间场强测定方法,其特征在于,
在所述有载场强测定步骤中,将模拟卡放置在POS机具表面空间的多个点上,测得模拟卡的对应的多个端口电压值,并根据所述对应关系表获得该电压下的多个场强值。
4.如权利要求2所述的POS机具空间场强测定方法,其特征在于,
在所述空间场强模型建立步骤中,模拟实际刷卡动作建立锥形的空间场强模型。
5.如权利要求2所述的POS机具空间场强测定方法,其特征在于,
所述模拟卡被设定为非线性负载。
6.如权利要求1所述的POS机具空间场强测定方法,其特征在于,
所述测试用三层天线被预先校准为50欧姆天线匹配。
7.如权利要求1所述的POS机具空间场强测定方法,其特征在于,
其中,所述场强递增扫描是以0A/m为起点,0.2A/m为步进,12A/m为终点进行场强扫描。
8.如权利要求2、4、5中任意一项所述的POS机具空间场强测定方法,其特征在于,
所述空载场强测定步骤包括下述子步骤:
将所述校验线圈放置在POS机具表面;
用示波器测量校验线圈的峰峰值电压Vpp;
按照下述公式,根据所述峰峰值电压Vpp计算POS机具的空载场强H
9.如权利要求2~5任意一项所述的POS机具空间场强测定方法,其特征在于,
所述有载场强测定步骤包括下述子步骤:
将模拟卡放置在POS机具表面空间的一个点上;
测得模拟卡在该点上的端口电压;
根据所述对应关系表获得该电压下的对应的场强值;
重复进行上述三个子步骤以获得多个场强值。
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