[发明专利]一种利用芯片保护二极管测量电路开短路的装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种利用芯片保护二极管测量电路开短路的装置。

背景技术

自1958年美国德克萨斯仪器公司发明集成电路（IC）后，随着硅平面技术的发展，二十世纪六十年代先后发明了双极型和MOS型两种重要的集成电路，它标志着由电子管和晶体管制造电子整机的时代发生了巨大的发展，创造了一个前所未有的具有极强渗透力和旺盛生命力的新兴产业集成电路产业。

IC，即集成电路是采用半导体制作工艺，在一块较小的单晶硅片上制作上许多晶体管及电阻器、电容器等元器件，并按照多层布线或遂道布线的方法将元器件组合成完整的电子电路。IC中发光二极管都是以串列方式存在，当串列中有其中一发光二极管损毁就会发生短路，造成高电流、高电压聚集在IC上，造成整个串列的烧坏，因此需要对IC进行测试。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术中的不足提供了一种结构简单、测试效率高利用芯片保护二极管测量电路开短路的装置。

本发明为解决上述技术问题采用以下技术方案

一种利用芯片保护二极管测量电路开短路的装置，包含测量仪和待测IC，所述测试仪包含DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器和输入输出接口，所述待测IC包含保护二极管，所述显示LED模块和输入输出接口连接在微处理器的相应端口上，所述输入输出接口连接待测IC PIN脚。

优选的，所述微处理器为单片机。

优选的，所述显示模块为LED。

优选的，所述单片机为AT89C52。

本发明采用以上技术方案与现有技术相比，具有以下技术效果：

1、结构简单测试效率高；

2、可以单独进行IC 测试；能够测试PCBA板上与IC相连接的CONN焊接是否开短路；可以用此种方法很快捷的测试出焊接效果。不需要组装成实机进行测试，从而提高测试效率。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的技术方案做进一步的详细说明：

如图1所示，一种利用芯片保护二极管测量电路开短路的装置，包含测量仪和待测IC，所述测试仪包含DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器和输入输出接口，所述待测IC包含保护二极管，所述显示LED模块和输入输出接口连接在微处理器的相应端口上，所述输入输出接口连接待测IC PIN脚。所述微处理器为单片机，所述显示模块为LED，所述单片机为AT89C52。

测试方法为：由测试仪发送信号给IC PIN脚，由于IC PIN脚内部有保护二极管，二极管本身是有压降的，从而可以测试出此PIN脚的正确压降，而得出此PIN脚是否开路或者短路；本发明测试效率高，可以单独进行IC测试，也可以测试PCBA板上与IC相连接的CONN焊接是否开、短路。有了此种测试方法，PCBA在贴片上件之后，就可以用此种方法很快捷的测试出焊接效果。而不需要组装成实机进行测试，从而提高测试效率。

信号测试传递过程原理：

A.IC开路测试：1.将IC 的VDD设置为0V；

2.测试仪的MCU发送高电平数据至待测IC的PIN脚；

3.MCU读IC PIN脚的信号，如电平没有发生变化则

开路,电平低于发出去的数据则正常。

B.IC短路测试：1.将IC 的VDD设置为0V；

2.测试仪的MCU发送高电平数据至待测IC的PIN脚 ；

3.MCU读IC PIN脚的信号压降，如果是此IC内部保

护二极管的压降则正常，如低于IC内部保护二极管

的压降则与VDD短路 。

C.IC相邻PIN脚短路测试：

1.将IC的VDD设置为0V；

2.测试仪的MCU发送低电平数据至待测IC的PIN脚1；

3.测试仪的MCU发送高电平数据至待测IC的PIN脚2；

4.MCU读IC PIN2的信号压降，如是低电平数据则短

路，如是高电平数据则正常。

以上高低电平数据需根据IC的型号不同和使用者的要求不同，可以灵活编译,IC内部的二极管压降也因IC的型号不同而异，以上只是测试原理。