[发明专利]在线存储器测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种在线存储器测试系统及方法。

背景技术

多数的电子装置包括电子存储器。举例而言，计算装置包括用于储存数据及指令的电子存储器。在另一例子中，影像传感器正常包括电子存储器以储存撷取的影像数据，直到影像数据被传送至外部电路以供处理为止。

电子存储器一般包括多数个排成阵列的存储器晶胞，每个晶胞以二进制形式储存数据单元，例如一位的数据。每个存储器晶胞或存储器晶胞的群组用于经由确认晶胞或晶胞群组的各个地址来读取或写入而容易存取的。每个存储器晶胞通常包括一个或多个晶体管，或其它电子装置，用于储存一数据单元，并用于连接存储器晶胞与外部电路。

存储器晶胞偶而经历故障，以使它们没有确实地储存数据单元。因此，已开发用于确认有缺点的存储器晶胞的电子存储器测试机构。这种机构在存储器是离线时被执行，例如立即在存储器启动之后或在存储器制造期间。举例而言，典型的计算装置于启动时执行″开机自我测试(power-on self-test)″程序，用于测试除其它事项外的装置的电子存储器。

发明内容

在一实施例中，一种用于在电子存储器在使用中的同时测试电子存储器的方法包括：(a)于测试地址侦测对于电子存储器的存取；(b)于对应于测试地址的位置，将写入至电子存储器的写入数据储存在缓存器次系统中；(c)于对应于测试地址的位置，比较写入数据与从电子存储器读取的数据，用于判断存储器是否具有故障；以及(d)若存储器具有故障，则产生错误信号。

在一实施例中，一种影像传感器包括：像素阵列，用于产生影像数据；电子存储器，用于储存影像数据；存储器控制器，用于控制影像数据的写入至电子存储器以及影像数据从电子存储器的读取；以及在线存储器测试系统，用于在正常操作期间确认存储器中的故障。在线存储器测试系统包括：地址侦测模块，用于在测试地址侦测对于电子存储器的存取；缓存器次系统，用于在对应于测试地址的位置储存写入至电子存储器的写入数据；比较器模块，用于在对应于测试地址的位置比较储存的写入数据与从电子存储器读取的数据，用于判断存储器是否具有故障；以及错误产生器模块，用于若存储器具有故障，则产生错误信号。

在一实施例中，一种用于在电子存储器在使用中的同时测试电子存储器的方法，包括：(a)于测试下的地址范围之内的地址，侦测对于在电子存储器之内的位置的存取；(b)若所述存取为写入存取且所述位置位于测试下的地址范围的起始地址，则初始化写入错误侦测码；(c)若所述存取为读取存取且所述位置位于起始地址，则初始化读取错误侦测码；(d)若所述存取为写入存取，则更新写入错误侦测码；(e)若所述存取为读取存取，则更新读取错误侦测码；(f)侦测读取错误侦测码的完成；(g)当完成被侦测时，比较写入错误侦测码与读取错误侦测码，以判断存储器是否具有故障；以及(h)若存储器具有故障，则产生错误信号。

在一实施例中，一种影像传感器包括：像素阵列，用于产生影像数据；电子存储器，用于储存影像数据；种存储器控制器，用于控制影像数据的写入至电子存储器以及影像数据从电子存储器的读取；以及在线存储器测试系统，用于在操作期间测试存储器。在线存储器测试系统包括地址侦测模块、码产生器模块、比较器模块以及错误产生器模块。地址侦测模块用于在测试下的地址范围之内的位置侦测对于电子存储器的存取。码产生器模块用于：(a)若所述存取为写入存取且所述位置位于测试下的地址范围的起始地址，则初始化写入错误侦测码；(b)若所述存取为读取存取且所述位置位于起始地址，则初始化读取错误侦测码；(c)若所述存取为写入存取，则更新写入错误侦测码；(d)若所述存取为读取存取，则更新所述读取错误侦测码；以及(d)侦测读取错误侦测码的完成。比较器模块用于当侦测到完成时，比较写入错误侦测码与读取错误侦测码，用于判断存储器是否具有故障。错误产生器模块用于若存储器具有故障，则产生错误信号。

附图说明

图1显示依据一实施例的在一影像传感器之内被实施的一个例示的在线存储器测试系统。

图2显示依据一实施例的用于在电子存储器在使用中的同时测试电子存储器的一个例示方法。

图3显示依据一实施例的在一影像传感器之内被实施的一个例示的在线存储器测试系统。

图4依据一实施例的用于在电子存储器在使用中的同时测试电子存储器的一个例示方法。

具体实施方式