[发明专利]一种基于气体组分分析的GIS绝缘状态诊断方法

权利要求书

1.一种基于气体组分分析的GIS绝缘状态诊断方法，其特征在于，包括：

利用精密镜面露点法测定GIS气室内的水分含量；

在所述GIS气室内的水分含量满足要求时，测定GIS气室内的气体分解组分的种类和含量，判断GIS设备内部是否存在放电；

若所述GIS设备内部存在放电，则根据GIS设备内部是否出现含碳的放电相关气体分解组分，判断GIS设备内部放电涉及有机绝缘介质还是涉及非有机绝缘介质。

2.如权利要求1所述的基于气体组分分析的GIS绝缘状态诊断方法，其特征在于，所述分水含量的要求如下：①断路器灭弧室气室的水分含量大修后不大于150μL/L，运行中不大于300μL/L；②其它气室的水分含量大修后不大于250μL/L，运行中不大于500μL/L。

3.如权利要求2所述的基于气体组分分析的GIS绝缘状态诊断方法，其特征在于，所述GIS气室内的气体为SF6，所述测定GIS气室内的气体分解组分的种类和含量，判断GIS设备内部是否存在放电，包括：

测定所述GIS气室内的气体分解组分的种类，所述气体分解组分的种类包括：SO2、SO2F2、S2OF10、CS2、CF4；

测定所述GIS气室内的气体分解组分的含量，若SO2浓度大于零或SO2F2浓度大于零或S2OF10浓度大于零或CS2浓度大于零或CF4浓度增量大于零，则判定GIS设备内部存在放电，否则判定所述GIS设备内部不存在放电。

4.如权利要求3所述的基于气体组分分析的GIS绝缘状态诊断方法，其特征在于，所述根据GIS设备内部是否出现含碳的放电相关气体分解组分，判断GIS设备内部放电涉及有机绝缘介质还是涉及非有机绝缘介质，包括：

若GIS设备内部的气体分解组分CS2浓度大于零或CF4浓度增量大于零，则判定GIS设备内部放电为绝缘介质相关，否则判定GIS设备内部放电为非绝缘介质相关。

5.如权利要求4所述的基于气体组分分析的GIS绝缘状态诊断方法，其特征在于，在判定所述GIS设备内部放电为绝缘介质相关时，进一步判断GIS缺陷类型是否为绝缘子沿面缺陷，具体包括：

若GIS设备内部的气体分解组分SO2与CF4浓度比值大于1，则判定GIS缺陷类型为绝缘子沿面缺陷。

6.如权利要求5所述的基于气体组分分析的GIS绝缘状态诊断方法，其特征在于，在判定所述GIS设备内部放电为非绝缘介质相关时，进一步判断GIS缺陷类型是否为金属突出物电晕放电或火花放电，具体包括：

若GIS设备内部的气体分解组分S2OF10与SO2F2的浓度比值在0.1到2之间且SO2与S2OF10的浓度比值小于1，则判定该GIS缺陷类型为金属突出物电晕放电；

否则，若GIS设备内部的气体分解组分S2OF10与SO2F2的浓度比值小于0.1或者SO2与S2OF10的浓度比值大于1，则判定该GIS缺陷类型为金属突出物火花放电。