[发明专利]绝缘寿命推定方法及绝缘寿命推定装置

权利要求书

1.一种绝缘寿命推定方法，对具备导体和绝缘体而构成的试样的绝缘寿命进行推定，该绝缘寿命推定方法的特征在于，具备：

信息获取步骤，其获取所述试样中的局部放电的放电电荷量与该试样的绝缘破坏的相关信息；

电荷量检测步骤，其在推定所述绝缘寿命的阶段使所述试样发生局部放电，检测该局部放电的放电电荷量；以及

寿命推定步骤，其基于所述信息获取步骤中得到的相关信息，根据所述电荷量检测步骤中检测出的放电电荷量求出所述试样到绝缘破坏为止的时间，作为所述绝缘寿命的推定结果。

2.根据权利要求1所述的绝缘寿命推定方法，其特征在于，

在所述信息获取步骤中，获取确定所述试样到绝缘破坏为止的总放电电荷量的信息，作为所述相关信息；

在所述电荷量检测步骤中，检测所述试样中发生的局部放电的每单位时间的放电电荷量；

在所述寿命推定步骤中，将所述总放电电荷量除以所述每单位时间的放电电荷量，求出从开始使用所述试样到该试样绝缘破坏为止的时间。

3.根据权利要求1所述的绝缘寿命推定方法，其特征在于，

在所述信息获取步骤中，获取确定从开始使用所述试样到该试样绝缘破坏为止该试样中的局部放电的放电电荷量的经时变化特性的信息，作为所述相关信息；

在所述电荷量检测步骤中，检测所述试样中发生的局部放电的放电电荷量；

在所述寿命推定步骤中，将所述电荷量检测步骤中的检测结果与所述经时变化特性对照，求出所述试样到绝缘破坏为止的残余时间。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的绝缘寿命推定方法，其特征在于，

具备预先准备步骤，其在所述信息获取步骤之前，从开始使用所述试样到该试样绝缘破坏为止，持续检测该试样中的局部放电的放电电荷量，根据其检测结果生成所述相关信息并存储保存，

在所述信息获取步骤中，通过读取所述预先准备步骤中存储保存的所述相关信息，获取该相关信息。

5.一种绝缘寿命推定装置，其对具备导体和绝缘体而构成的试样的绝缘寿命进行推定，该绝缘寿命推定装置的特征在于，具备：

信息获取部，其获取所述试样中的局部放电的放电电荷量与该试样的绝缘破坏的相关信息；

电荷量检测部，其在推定所述绝缘寿命的阶段使所述试样发生局部放电，检测该局部放电的放电电荷量；以及

寿命推定部，其基于所述信息获取部得到的相关信息，根据所述电荷量检测部检测出的放电电荷量求出所述试样到绝缘破坏为止的时间，作为所述绝缘寿命的推定结果。

6.根据权利要求5所述的绝缘寿命推定装置，其特征在于，具备：

数据库部，其存储保存所述相关信息；

所述信息获取部通过读取所述数据库部存储保存的所述相关信息来获取该相关信息。

7.根据权利要求6所述的绝缘寿命推定装置，其特征在于，具备：

信息生成部，其从开始使用所述试样到该试样绝缘破坏为止，持续检测该试样中的局部放电的放电电荷量，根据其检测结果生成所述相关信息，存储保存在所述数据库部中。