[发明专利]显示面板制造方法、显示面板和显示装置有效
| 申请号: | 201410188829.9 | 申请日: | 2014-05-06 |
| 公开(公告)号: | CN104020608B | 公开(公告)日: | 2017-05-03 |
| 发明(设计)人: | 肖印;刘锋 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/1337 | 分类号: | G02F1/1337;G02F1/1333 |
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人: | 李迪 |
| 地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示 面板 制造 方法 显示装置 | ||
技术领域
本发明涉及TFT-LCD技术领域,具体涉及显示面板制造方法、显示面板和显示装置。
背景技术
随着社会进步及科技发展,薄膜场效应晶体管液晶显示器(TFT-LCD)已经成为当今时代显示领域的主流产品,在工业生产、日常生活中起到了至关重要的作用,越来越受到人们的青睐。
液晶取向是液晶面板生产中的一个必要环节,目前TFT-LCD行业内普遍使用摩擦技术对玻璃基板进行摩擦,使聚酰亚胺分子表面形成一定角度的沟槽,液晶分子沿沟槽进行排布,达到取向的目的。摩擦工艺方法较为简单、方便,是当前的主流技术,具有非常多的优点,如:工艺成熟,摩擦配向稳定性好;实施方便,操作性强。但是目前尚存在较多的弊端:摩擦不均造成液晶分子取向不均,影响显示质量;摩擦布对基板实施摩擦时,容易划伤基板表面,引起质量缺陷;摩擦时,会产生较多的摩擦碎屑(如聚酰亚胺碎屑,布毛碎屑)污染液晶,引起显示缺陷如斑纹(Mura)等;IPS类液晶屏对画质要求较高,而摩擦工艺难于满足高像素显示器的要求(如对比度较低等);摩擦产生的静电易击穿阵列基板上的显示元件,造成显示不良。
因此,行业逐渐兴起一种液晶取向新技术——光配向工艺,即通过紫外光(UV)照射,引发基片上的光取向材料膜发生光致聚合、光致异构或光致分解反应,产生表面的各向异性,进而诱导液晶分子取向的方法,此方法是一种非接触的液晶定向技术,克服了摩擦取向的缺点。光配向工艺采用非接触模式曝光,不会对PI膜表面产生损伤,防止漏光发生,使暗态时候的亮度更低,而亮态时候的对比度保持不 变,从而达到高对比度要求。光分解的材料也分为两类,一类为小分子型,进行二次固化工艺即可,但是生产的产品仍然存在较多的不良难以解决,如Mura等。另一类为大分子型,需要进行二次清洗,产品Mura不良较轻微,具有相当可观的前景。然而,对于二次清洗工艺,业界内尚无较为成功的方法能清洗干净被分解掉的残留PI(聚酰亚胺)液分子,这极大的影响了产品的对比度等一些性能。光配向工艺的缺陷也使液晶屏幕产生相关不良,例如显示器残像严重、信赖性不好等。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本发明的目的是提供一种显示面板制造方法,能够在一定程度上克服目前两种配向工艺单独使用导致的缺陷,并保留两种配向工艺带来的优点。
(二)技术方案
为了达到以上目的,根据本发明的一方面,提供了一种显示面板制造方法,显示面板包括第一基板和第二基板,第一基板和第二基板上均形成有聚酰亚胺膜;该显示面板制造方法包括:
对第一基板和第二基板中的一个基板上的聚酰亚胺膜采用摩擦配向工艺进行配向,对另一个基板上的聚酰亚胺膜采用光配向工艺进行配向。
较佳地,该方法还包括:对第一基板和/或第二基板上的聚酰亚胺膜既采用摩擦配向工艺,也采用光配向工艺进行配向。
其中,在摩擦配向工艺中,使用棉布或人造纤维作为摩擦布。
其中,在配向前于第一基板和第二基板上形成聚酰亚胺膜时,待采用摩擦配向工艺的基板涂覆普通聚酰亚胺液,待采用光配向工艺的基板涂覆光敏性聚酰亚胺液。
其中,在光配向工艺中,使用波长为200nm~400nm的紫外光。
其中,所述紫外光的光积量为30mj/cm2~2000mj/cm2。
其中,所述光配向工艺还包括:二次清洗、二次加热固化或二次UV固化。
其中,对第一基板和第二基板上的聚酰亚胺膜进行配向时,配向角度在±15°之间。
根据本发明的另一方面,提供了一种显示面板,由上述的制造方法制成。
根据本发明的又一方面,提供了一种显示装置,包括上述显示面板。
(三)有益效果
本发明至少有如下有益效果:
本发明中,在制造显示面板时,分别对第一基板和第二基板中的一个采用摩擦配向工艺进行配向,一个采用光配向工艺进行配向,摩擦配向工艺可以提高液晶分子的锚定力,有利于改善光配向工艺容易造成的残像严重、信赖性不好的问题。而光配向工艺由于是非摩擦技术,可改善漏光,降低液晶分子预倾角,提高对比度。由于将摩擦配向工艺和光配向工艺同时配合使用,可有效改善显示面板的显示质量,避免单独使用其中一种配向工艺时导致某项性能出现短板的缺陷。
附图说明
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