[发明专利]超低阻值电阻及其制造方法有效
申请号: | 201410187793.2 | 申请日: | 2014-07-25 |
公开(公告)号: | CN104347201B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 蔡宜兴 | 申请(专利权)人: | 蔡宜兴 |
主分类号: | H01C7/00 | 分类号: | H01C7/00;H01C17/242 |
代理公司: | 上海申新律师事务所31272 | 代理人: | 吴俊 |
地址: | 中国台湾高雄市80*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阻值 电阻 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明是关于一种超低阻值电阻及其制造方法,尤其是一种具有稳定生产良率的超低阻值电阻及其制造方法。
背景技术
请参照第1图所示,是一种广泛使用的已知超低阻值电阻8,透过于一基板81(通常为氧化铝陶瓷或半导体所构成)上形成一电阻膜82,在该电阻膜82外部包覆一保护层83,并且分别于该基板81两端提供一导体电极84,即可作为电阻器使用。其中,根据该电阻膜82形成方式的不同,该已知超低阻值电阻8又可以区分为利用薄膜制程(thin-film process)所制作的薄膜电阻;以及利用厚膜印刷制程(thick-film printing process)所制作的厚膜电阻。然而,薄膜电阻由于制程技术难度较高,致使生产成本始终居高不下,且受限于薄膜组件结构特性导致其耐突波能力极差;厚膜电阻虽然具有相对较低的生产成本,但是制作过程必须采用高铅玻璃搭配银、钯或钌等贵金属元素,存在污染环境的疑虑,且尽管厚膜电阻具有宽广的阻值范围,用来制作超低阻值电阻时却具有特性稳定度不佳的问题。据此,该已知超低阻值电阻8存在生产成本过高、突波耐受性差、不符环保要求以及特性稳定度不佳等缺点。
有鉴于此,请参照第2图所示,是另一种常见的已知超低阻值电阻9,利用冲膜成型的一合金板91所构成,该合金板91外部包覆一封装体92,并且在该合金板91二端分别镀上一导电层93以作为端电极。该已知超低阻值电阻9的结构简单且制程技术难度较低,使其能够克服上述已知超低阻值电阻8的缺点,成为电子电路表面黏着技术(surface mount technology, SMT)中最常被采用的被动电子组件。
只是该已知超低阻值电阻9的阻值精确度较难掌控,此乃由于该已知超低阻值电阻9制作过程中,会使用冲模模具进行冲模以形成该合金板91,但该冲模模具一般存在公差的问题,为了要制作出具有高精确度阻值的产品,在该已知超低阻值电阻9的制程中通常会包含阻值修整微调的步骤,主要利用在该合金板91上开设孔洞以达成微调阻值的效果。
即便利用上述步骤调整该已知超低阻值电阻9的阻值,后续将该封装体92包覆于该合金板91外部时,仍然会因为溢胶等情形使得该封装体92对该合金板91的包覆情形存在公差,进而造成该已知超低阻值电阻9的阻值变动幅度较大。详言之,该合金版91除了受到该封装体92包覆的部分外,均为该导电层93所包覆,由于受到该导电层93包覆的部分形同短路以作为端电极使用,无法作为该已知超低阻值电阻9的阻值来源,因此该封装体92对该合金板91的包覆面积直接影响该已知超低阻值电阻9的阻值。然而,在该封装体92的封装过程中于其周缘921可能会溢胶而产生不规则毛边,导致该封装体92对该合金板91的包覆面积容易变动,造成已知超低阻值电阻9的阻值偏离预定数值而产生误差。
请参照第2a图所示,虽然目前业界尝试加入研磨步骤以修饰该封装体92的周缘921,只是现有研磨机台(例如:砂轮机)并无法处理该封装体92的周缘921的角隅921a或侧面922b等位置,因此该周缘921即便经研磨后于该角隅921a及该侧面922b位置依旧较为突出,形成趋近弯弧状的切口,导致该封装体92经研磨后对该合金板91的包覆面积仍然具有相当高的变异度,且无法完整除去该封装体2因溢胶所形成的不规则毛边,使得该封装体92严重影响该已知超低阻值电阻9的阻值精确度。据此,该已知超低阻值电阻9受限于大量生产时难以有效掌控阻值,生产良率始终无法提升。
值得注意的是,虽然在上述已知超低阻值电阻8的制程中,以雷射切割修整该电阻膜82来微调阻值为本领域所熟习的已知技术,但上述已知超低阻值电阻9的电阻温度系数(Temperature coefficient of resistance, TCR)相较该已知超低阻值电阻8而言较高,倘若欲在该已知超低阻值电阻9的制程中同样以雷射切割修整该封装体92,该已知超低阻值电阻9势必无法抵抗雷射修整切割所造成的热应力而产生温升,一旦该已知超低阻值电阻9的温度改变即难以准确测量其电阻值,致使以雷射修整切割该封装体92仍无法将该已知超低阻值电阻9的阻值精确微调至一误差范围内。为此,长久以来各厂家苦于缺少能够有效切割修整该封装体92的制程技术,导致该已知超低阻值电阻9的生产良率(阻值与一标准值的误差落在5%内)普遍约在50%左右,难以获得进一步改善。
综上所述,需提供一种进一步改良的超低阻值电阻,以改善上述已知超低阻值电阻9的阻值难以微调的缺点,有效提升超低阻值电阻的生产良率。
发明内容
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