[发明专利]腔室环境调控方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体加工制备领域，特别是涉及一种腔室环境调控方法。

背景技术

随着对电子产品的尺寸、性能及功耗等方面的要求越来越高，集成电路中的半导体器件结构变得更加复杂，特征尺寸不断缩小。通过等离子体刻蚀工艺，在大面积衬底上获得均匀的具有纳米量级特征尺寸的结构变得愈加困难。此外，腔室环境对晶圆间特征尺寸刻蚀加工的一致性和重复性的重要性也逐步凸显出来，反应腔室环境的变化一直被认为是造成工艺漂移的一个重要原因，当等离子体工艺完成之后，一般会在反应腔室内壁沉积有残留物质，随着工艺的不断进行，残留物质也会随着时间的增加不断累积，因此，在连续加工过程中不同晶圆之间所处的反应腔室环境也在不断变化，等离子体中活性粒子在反应腔室内壁处的复合率也相应发生了改变，从而等离子体中的化学环境也有改变，并最终表现在工艺结果中，如：特征尺寸、刻蚀速率、刻蚀均匀性、刻蚀形貌，以及选择比等。

通常解决反应腔室环境变化的方法是，通过在刻蚀工艺完成后的反应腔室中通入调理气体，将调理气体激发成等离子体，在反应腔室内壁沉积一层聚合物层；该方法采用的调理气体为含氟含碳或含氯的气体，由于主要是针对刻蚀铝，并不适用于浅沟槽隔离刻蚀，并且由于在沉积聚合物层过程中引入含氟的气体，对反应腔室内壁有一定的腐蚀作用，同时，含氟含碳或含氯的气体与反应腔室内壁的粘附性较差，在对晶圆加工处理过程中，容易产生剥落，从而影响工艺的稳定性。

发明内容

基于此，有必要针对腔室环境影响刻蚀工艺稳定性的问题，提供一种腔室环境调控方法。

为实现本发明目的提供的一种腔室环境调控方法，包括以下步骤：

向反应腔室中通入第一气体，在所述反应腔室的内壁及所述反应腔室中的基片台表面生成第一涂层；

向所述反应腔室通入第二气体，在所述第一涂层的表面生成第二涂层；

将晶圆送入所述反应腔室中，进行等离子体加工；

对所述晶圆进行所述等离子体加工完毕后，将所述晶圆移出所述反应腔室，并通入第一清洗气体，去除所述等离子体加工过程中吸附在所述第二涂层的表面的沉积物及所述第二涂层；

通入第二清洗气体，去除所述第一涂层，使所述反应腔室恢复初始环境。

其中，所述第一涂层为含硅元素和氧元素的涂层，分子式为Si_xO_y。

其中，所述第二涂层为含硅元素、碳元素和卤族元素的涂层，或者为含硅元素、碳元素和氢元素的涂层，分子式为Si_aC_bR_c，其中所述R为F、Cl、Br或H。

其中，所述第一气体为含硅元素和氢元素的气体与氧气的混合气体。

其中，所述第二气体为含碳元素、氢元素和卤族元素的气体与含硅元素和卤族元素的气体的混合气体。

其中，所述第一涂层的厚度和所述第二涂层的厚度均为2nm—100nm。

其中，所述第一涂层的厚度和所述第二涂层的厚度均为10nm—30nm。

其中，所述第一涂层的生成方法为等离子体激发沉积方法或者气体分子聚合沉积方法；

所述第二涂层的生成方法为所述等离子体激发沉积方法或者所述气体分子聚合沉积方法。

其中，所述等离子体加工为等离子体刻蚀加工或者等离子体气相沉积加工。

其中，所述第一清洗气体为含氟元素的气体和含氧元素的气体中的一种或两种以上的混合气体。

其中，所述第二清洗气体为含氯元素的气体、含氧元素的气体和含氮元素的气体中的一种或两种以上的混合气体。

本发明提供的腔室环境调控方法，通过在对晶圆进行等离子体加工之前，首先依次在反应腔室的内壁及基片台表面，生成与反应腔室的内壁粘附性较好的第一涂层，和保证晶圆在进行等离子体加工时反应腔室环境稳定的第二涂层，不仅实现了每片晶圆的加工环境的一致性，同时还保证了晶圆加工之初等离子体的稳定性，有效地提高了刻蚀工艺的稳定性。

附图说明

图1为腔室环境调控方法一具体实施例流程图；

图2为腔室环境调控方法另一具体实施例中生成第一涂层后的反应腔室的纵截面示意图；

图3为腔室环境调控方法另一具体实施例中生成第二涂层后的反应腔室的纵截面示意图；

图4为腔室环境调控方法另一具体实施例中对晶圆进行等离子体加工后的反应腔室的纵截面示意图；