[发明专利]投影测量定位装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种投影测量定位装置。

背景技术

采用投影测量物品的外观尺寸等极为方便，所述投影测量就是通过电子显微镜，将照摄待测物品的电子图形进行放大并传输到屏幕上进行检测，通过观察屏幕上面的影像来判断待测物品的尺寸、表面结构是否符合要求。

请参阅图1，现有技术中，对镜片1等薄板状物体的测量是将镜片1平放于平台2上，电子显微镜3在正上方上投影镜片1正面，而镜片1的倒角4只是一个正面的影像，无法观察到倒角4的尺寸和角度，还有倒角上的外观及直升位。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于，提供一种便于投影测量工件倒角的投影测量定位装置。

为了实现上述目的，本发明实施方式提供如下技术方案：

本发明提供一种投影测量定位装置，用于定位待投影的板状的工件，所述定位装置包括支撑板、设于所述支撑板一表面两个挡壁及锁持体，所述两个挡壁平行相对，并且与所述支撑板围成一卡持槽，所述锁持体设于所述一个挡壁上，所述工件的一侧边收容于所述卡持槽内，所述工件表面贴紧未设有锁持体的挡壁上并由所述锁持体锁紧，所述工件的另一侧边为待测位置。

其中，与所述工件贴紧的挡壁上设有缓冲层。

其中，所述锁持体为两个螺钉。

其中，所述锁持体上设有缓冲垫，所述缓冲垫抵持所述工件表面。

其中，所述锁持体上还设有弹性卡扣，所述缓冲垫设于弹性卡扣上。

其中，所述两个挡壁包括第一挡壁及第二挡壁，所述所锁持体设于第二挡壁上，所述缓冲层设于第一挡壁上朝向第二挡壁。

其中，所述两个挡壁包括第一挡壁及第二挡壁，所述所锁持体设于第一挡壁，所述缓冲层设于第二挡壁上朝向第一挡壁。

其中，所述支撑板背向所述卡持槽的一侧设有倾斜面及水平面，所述倾斜面相对所述水平面的倾斜角为30-45度。

其中，所述两个挡壁之间的支撑板可以为倾斜面。

其中，所述支撑板与所述挡壁可一体成型。

本发明的投影测量定位装置可以牢固定位带测量的工件，更重要的是把镜片等工件的倒角和直伸位朝向的测量位置，便于准确的全方位测量。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术中的一种投影测量定位装置的示意图；

图2是本发明投影测量定位装置较佳实施例示意图，其中包括工件；

图3是图2所示的投影测量定位装置的示意图；

图4是本发明所述投影测量定位装置的侧面示意图；

图5是本发明投影测量定位装置另一种形式示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图2与图3，本发明涉及一种投影测量定位装置100，用于定位待投影的板状的工件200，所述定位装置包括支撑板10、设于所述支撑板10一表面两个挡壁15及锁持体20。所述两个挡壁15平行相对，并且与所述支撑板10围成以卡持槽18。所述锁持体20设于所述一个挡壁15上。所述工件200的一侧边收容于所述卡持槽18内，所述工件200表面贴紧未设有锁持体20的挡壁15上并由所述锁持体20锁紧，所述工件200的另一侧为待测位置。