[发明专利]一种对压缩采样系统低通滤波器进行补偿的方法有效

专利信息
申请号: 201410177383.X 申请日: 2014-04-29
公开(公告)号: CN103957009B 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 赵贻玖;戴志坚;王厚军;王锂;杨万渝 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H03M1/12 分类号: H03M1/12;H03M7/30;H03H7/01
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙)51220 代理人: 温利平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 压缩 采样系统 滤波器 进行 补偿 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于频谱稀疏信号压缩采样技术领域,更为具体地讲,涉及一种对压缩采样系统低通滤波器进行补偿的方法,用于对低通滤波器非理想特性进行补偿,以降低压缩采样系统设计的难度。

背景技术

基于调制宽带转换器的压缩采样技术是一种基于压缩感知理论的欠采样方法,不仅能够突破采样定理的对模数转换器(ADC)采样频率的限制,同时还能够避免ADC模拟信号输入带宽对采样信号频率的限制。

现有比较成熟的压缩采样系统是采用m路伪随机序列pi(t),i=1,2,…,m对被测信号x(t)的频谱进行感知(在混频器中混频),得到m路基带信号然后分别采用相同的低通滤波器h(t)对m路基带信号进行滤波后采样,得到的m路采样信号yi[n]通过最优化算法(重构算法),对被测信号的重构,得到重构的被测信号序列x*[n],基于调制宽带转换器的压缩采样系统结构如图1所示。

低通滤波器h(t)截取混频器输出的基带信号ADC仅对基带信号进行采样。由于基带信号中携带了被测信号的频谱信息,因此可以通过算法进行提取与波形重建。

压缩采样系统的数学模型具有理论可行性,然而,采用数学模型要求低通滤波器具有理想特性,这在电路中是无法实现的。在压缩采样系统的具体实现中,采用巴特沃斯低通滤波器对理想低通滤波器进行替代,但巴特沃斯滤波器通带不严格平坦、过渡带平缓以及阻带不为零等特性降低了压缩采样系统的性能,使通过该滤波器滤波的采样值重构的被测信号序列x*[n]存在较大的误差。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种对压缩采样系统低通滤波器进行补偿的方法,以解决压缩采样系统中非理想低通滤波器带来的重构被测信号序列x*[n]存在较大的误差问题。

为实现以上目的,本发明对压缩采样系统低通滤波器进行补偿的方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)、设计校正滤波器

1.1)、输入一个已知的被测信号x(t)到非理想低通滤波器的压缩采样系统进行采样,任选一路即第i路作为补偿获取通道,则该通道的压缩采样值序列用向量为yt;计算出理想低通滤波器的压缩采样系统对已知的被测信号x(t)的压缩采样值序列,并用向量表示为y;则理想低通滤波器的压缩采样系统与实际的即非理想低通滤波器压缩采样系统的采样值误差为ye

ye=yt-y;

2.1)、对非理想低通滤波器FIR系数误差e进行估计

a)、当压缩采样值序列yt的长度M>非理想低通滤波器的FIR系数长度L时,通过最小二乘法对e进行估计:

mine||Qe-ye||22;]]>

b)、当压缩采样值序列yt的长度M<=非理想低通滤波器的FIR系数长度L时,采用Tikhonov正则化算法,根据Qe-ye最小原则对e进行估计;

其中:

上式中,B为已知压缩矩阵,n∈{0,1,…,N},x[n]为被测信号x(t)的奈奎斯特采样值,pi[n]为伪随机序列值,N为待重构被测信号序列x*[n]的长度;

1.3)、估计得到非理想低通滤波器FIR系数误差e,可以得到非理想低通滤波器FIR系数其中,h为理想低通滤波器的FIR系数,h=[h[0],h[1],…h[l],…,h[N-1]]T,当l>L-1时,h[l]=0;

非理想低通滤波器FIR系数可表述为

1.4)、通过最小二乘法估计得到校正滤波器的FIR系数hd,即:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410177383.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top