[发明专利]数据写入方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元

权利要求书

1.一种数据写入方法，用于控制一可复写式非易失性存储器模块，该可复写式非易失性存储器模块包括多个实体抹除单元，每一该些实体抹除单元包括多个实体程序化单元，其特征在于，并且该数据写入方法包括：

接收一写入指令，其中该写入指令指示将一数据写入至多个逻辑单元中的至少其中之一，其中该些逻辑单元中的该至少其中之一映射至该些实体程序化单元中的一第一实体程序化单元，并且该第一实体程序化单元属于该些实体抹除单元中的一第一实体抹除单元；

判断该第一实体抹除单元属于一第一类实体抹除单元或一第二类实体抹除单元；

当该第一实体抹除单元属于该第一类实体抹除单元时，依据一第一码率来将该数据与对应于该数据的一校验码编程至该第一实体程序化单元；以及

当该第一实体抹除单元属于该第二类实体抹除单元时，依据一第二码率来将该数据与对应于该数据的该校验码编程至该第一实体程序化单元，其中该第一码率高于该第二码率，

其中依据该第二码率来将该数据与对应于该数据的该校验码编程至该第一实体程序化单元的步骤包括：

当该数据的数据长度不超过N个基本管理单位的数据长度时，依据该第二码率将该数据与对应于该数据的该校验码编程至该第一实体程序化单元；以及

当该数据的该数据长度超过该N个基本管理单位的该数据长度时，依据该第二码率将一第一部分的该数据与一第一部分的该校验码编程至该第一实体程序化单元并且将一第二部分的该数据与一第二部分的该校验码编程至该些实体程序化单元中的一第二实体程序化单元。

2.根据权利要求1所述的数据写入方法，其特征在于，判断该第一实体抹除单元属于该第一类实体抹除单元或该第二类实体抹除单元的步骤包括：

判断该第一实体抹除单元的一比特错误率评估值是否符合一门槛条件；

若该第一实体抹除单元的该比特错误率评估值不符合该门槛条件，判定该第一实体抹除单元属于该第一类实体抹除单元；以及

若该第一实体抹除单元的该比特错误率评估值符合该门槛条件，判定该第一实体抹除单元属于该第二类实体抹除单元。

3.根据权利要求2所述的数据写入方法，其特征在于，还包括：

根据该第一实体抹除单元的一抹除次数信息、一写入次数信息、一读取次数信息、一错误比特数信息、一错误比特率信息、一数据存放时间信息及一温度信息的至少其中之一或至少二者的组合，来决定该第一实体抹除单元的该比特错误率评估值。

4.根据权利要求1所述的数据写入方法，其特征在于，

依据该第一码率来将该数据与对应于该数据的该校验码编程至该第一实体程序化单元的步骤包括：

将该数据分成至少一第一数据段并且产生至少一第一校验码段，其中每一该至少一第一校验码段对应于该至少一第一数据段的其中之一，

其中依据该第二码率来将该数据与对应于该数据的该校验码编程至该第一实体程序化单元的步骤包括：

将该数据分成至少一第二数据段并且产生至少一第二校验码段，其中每一该至少一第二校验码段对应于该至少一第二数据段的其中之一，

其中每一该至少一第一数据段的一数据长度相同于每一该至少一第二数据段的一数据长度，并且每一该至少一第一校验码段的一数据长度短于每一该至少一第二校验码段的一数据长度。

5.根据权利要求1所述的数据写入方法，其特征在于，

依据该第一码率来将该数据与对应于该数据的该校验码编程至该第一实体程序化单元的步骤包括：

将该数据分成至少一第一数据段并且产生至少一第一校验码段，其中每一该至少一第一校验码段对应于该至少一第一数据段的其中之一，

其中依据该第二码率来将该数据与对应于该数据的该校验码编程至该第一实体程序化单元的步骤包括：

将该数据分成至少一第二数据段并且产生至少一第二校验码段，其中每一该至少一第二校验码段对应于该至少一第二数据段的其中之一，

其中每一该至少一第一数据段的一数据长度长于每一该至少一第二数据段的一数据长度，并且每一该至少一第一校验码段的一数据长度相同于每一该至少一第二校验码段的一数据长度。