[发明专利]集成无源器件扇出型晶圆级封装结构及制作方法有效

专利信息
申请号: 201410172998.3 申请日: 2014-04-26
公开(公告)号: CN103972218A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 孙鹏;徐健;王宏杰;何洪文 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L23/64 分类号: H01L23/64;H01L23/498;H01L25/00;H01L21/48
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 殷红梅
地址: 214135 江苏省无锡市新区太湖国际科技园*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 集成 无源 器件 扇出型晶圆级 封装 结构 制作方法
【权利要求书】:

1. 一种集成无源器件扇出型晶圆级封装结构,包括模塑料体(1)和扇出型塑封于模塑料体(1)中的芯片(2),芯片(2)的正面具有第一电极(21)和第二电极(22);其特征是:在所述模塑料体(1)中设置第一金属布线层(31)和第二金属布线层(32),第一金属布线层(31)和第二金属布线层(32)呈螺旋形分布于模塑料体(1)上;在所述模塑料体(1)的正面设置绝缘层(4),在绝缘层(4)中布置第一金属导线层(51)和第二金属导线层(52),第一金属导线层(51)连接芯片(2)的第一电极(21)和第一金属布线层(31),第二金属导线层(52)连接芯片(2)的第二电极(22)和第二金属布线层(32);在所述第一金属导线层(51)和第二金属导线层(52)上分别设置一个或多个凸点下金属层(6)和焊球(7)。

2.如权利要求1所述的集成无源器件扇出型晶圆级封装结构,其特征是:所述芯片(2)的正面与模塑料体(1)的正面平齐。

3.如权利要求1所述的集成无源器件扇出型晶圆级封装结构,其特征是:所述第一金属布线层(31)和第二金属布线层(32)与模塑料体(1)的正面平齐。

4.一种集成无源器件扇出型晶圆级封装结构的制作方法,其特征是,采用以下工艺步骤:

(1)将芯片(2)扇出型塑封于模塑料体(1)中,芯片(2)的正面与模塑料体(1)的正面平齐;

(2)在模塑料体(1)的正面开设两部分螺旋形槽体(8);在槽体(8)中填充金属,得到螺旋形的第一金属布线层(31)和第二金属布线层(32);

(3)在模塑料体(1)的正面制作第一层绝缘层,在绝缘层上开设窗口,分别露出芯片(2)的第一电极(21)、第二电极(22)、第一金属布线层(31)和第二金属布线层(32);在上述绝缘层的表面和绝缘层的窗口中制作金属层;

(4)将步骤(3)得到的金属层刻蚀成所需图形,得到第一金属导线层(51)和第二金属导线层(52),第一金属导线层(51)和第二金属导线层(52)相互绝缘;

(5)在第一金属导线层(51)和第二金属导线层(52)上制作第二层绝缘层;在得到的绝缘层上开设窗口,在得到的绝缘层窗口中制作凸点下金属层(6),在凸点下金属层(6)上制作焊球(7)。

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