[发明专利]相位校准方法及装置有效

专利信息
申请号: 201410169331.8 申请日: 2014-04-25
公开(公告)号: CN103926549B 公开(公告)日: 2017-07-18
发明(设计)人: 张亦弛;李航;田伟;郭晓涛 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京华沛德权律师事务所11302 代理人: 刘杰
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 相位 校准 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种相位校准方法,其特征在于,包括:

将被测的N个频率点分为M组被测频率点,其中,不同组被测频率点存在重叠,N和M为正整数,M≥2;

获取M个标准信号,分别对每组被测频率点进行相位校准,以获取M组相位误差系数,其中,第i个标准信号的频率点完全覆盖第i组被测频率点,i为整数,1≤i≤M;

对所述M组相位误差系数进行修正并合并,以生成N个频率点的相位误差系数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将被测的N个频率点分为M组被测频率点的步骤,包括:

从被测的N个频率点中选出k1个被测频率点作为第1组被测频率点,其中,k1为正整数,2≤k1≤N;

从被测的N个频率点中选出ki个被测频率点作为第i组被测频率点,其中,i和ki为整数,2≤i≤M,2≤ki≤N,第i组被测频率点与所选出的前i-1组被测频率点之间至少存在1个重叠频率点。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述获取M个标准信号,分别对每组被测频率点进行相位校准,以获取M组相位误差系数的步骤,包括:

获得第i个标准信号,所述第i个标准信号包括被测频率点为f(i,1),f(i,2),…,f(i,k);对被测频率点f(i,1),f(i,2),…,f(i,k)进行相位校准,以获得相位误差系数Φ(i,1),Φ(i,2),…,Φ(i,k),其中,i和k为正整数,1≤i≤M,1<k<N。

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述对所述M组相位误差系数进行修正并合并的步骤,包括:

计算重叠频率点在不同组相位误差系数中的偏差;

通过所述偏差,利用拟合算法,计算不同组相位误差系数间的相对时延;

根据所述相对时延,依次对M组相位误差系数进行修正并合并,以生成N个频率点的相位误差系数。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述通过所述偏差,利用拟合算法,计算不同组相位误差系数间的相对时延的步骤,包括:

根据多频正弦信号和谐波信号的相位对准算法,计算不同组相位误差系数间的相对时延。

6.一种相位校准装置,其特征在于,所述装置包括:

分组模块,用于将被测的N个频率点分为M组被测频率点,其中,不同组被测频率点存在重叠,N和M为正整数,M≥2;

校准模块,用于获取M个标准信号,分别对所述分组模块分组的每组被测频率点进行相位校准,以获取M组相位误差系数,其中,第i个标准信号的频率点完全覆盖第i组被测频率点,i为整数,1≤i≤M;

合并模块,用于对所述校准模块获取的所述M组相位误差系数进行修正并合并,以生成N个频率点的相位误差系数。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述分组模块用于从被测的N个频率点中选出k1个被测频率点作为第1组被测频率点,其中,k1为正整数,2≤k1≤N;从被测的N个频率点中选出ki个被测频率点作为第i组被测频率点,其中,i和ki为整数,2≤i≤M,2≤ki≤N,第i组被测频率点与所选出的前i-1组被测频率点之间至少存在1个重叠频率点。

8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述校准模块,包括:

获取单元,用于获取M个标准信号;

校准单元,用于通过所述获取单元获取的M个标准信号,对M组被测频率点进行相位校准,以获取M组相位误差系数。

9.根据权利要求6或7所述的装置,其特征在于,所述合并模块,包括:

偏差计算单元,用于计算重叠频率点在不同组相位误差系数中的偏差;

延时计算单元,用于通过所述偏差计算单元计算的所述偏差,利用拟合算法,计算不同组相位误差系数间的相对时延;

合并单元,用于根据所述延时计算单元计算出的所述相对时延,依次对M组相位误差系数进行修正并合并,以生成N个频率点的相位误差系数。

10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述延时计算单元具体用于根据多频正弦信号和谐波信号相位对准算法,计算不同组相位误差系数间的所述相对时延。

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