[发明专利]用于准确测量布里渊谱的频移的最大相似匹配分析方法有效

专利信息
申请号: 201410167156.9 申请日: 2014-04-23
公开(公告)号: CN103968864A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 王峰;张旭苹;詹伟伟 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G01D5/32 分类号: G01D5/32;G01D5/353
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 朱小兵
地址: 210093 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 用于 准确 测量 布里渊谱 最大 相似 匹配 分析 方法
【权利要求书】:

1.用于准确测量布里渊谱的频移的最大相似匹配分析方法,其特征在于,预先测量光纤在未受应力和温度状态下的原始布里渊谱作为参考谱,将实际测量得到的布里渊谱作为测量谱,逐渐移动测量谱并比较其与截取的部分参考谱的形状,利用相关系数描述两者的形状相似程度,当相关系数取最大值时,测量谱的移动值即为实际的频移改变值。

2.根据权利要求1所述的用于准确测量布里渊谱的频移的最大相似匹配分析方法,其特征在于,具体包括以下步骤:

步骤一、在光纤未受应力和温度改变的情况下,布里渊光纤传感器测量光纤的布里渊信号,得到的布里渊谱作为参考谱为{G(f0+mF0)|m=0,1,...,M-1},其中f0为参考谱的扫频的初始频率,M为参考谱的扫频的总数,F0为参考谱的扫频间隔;

步骤二、将实际测量得到的布里渊谱作为测量谱,测量谱为{g(f+n·F(n)|n=0,1,...,N-1},其中f为实际测量时扫频的初始频率,N为实际测量时扫描的频率总数,F(n)为实际测量的扫频间隔,应为参考谱的扫频间隔F0的整数倍,对于不同的扫频次数,它可以取相同或不同的值,测量谱的扫频范围在参考谱的扫频范围之内;

步骤三、移动测量谱的位置,使该测量谱的初始频率对应于参考谱的某一频率fj,从参考谱中按照测量谱的扫频点截取部分参考谱,将fj作为截取的部分参考谱的初始频率,截取的部分参考谱为{G(fj+n·F(n))|n=0,1,...,N-1};

步骤四、将步骤三中截取的部分参考谱与测量谱按照如下公式进行计算得到相关系数C(fj):

C(fj)=Σi=0N-1(Gj(fi)-Gj)(g(fi)-g){(Σi=0N-1(Gj(fi)-Gj)2)(Σi=0N-1(g(fi)-g)2)}1/2]]>

其中fi为截取的部分参考谱中的某一频率,Gj(fi)为初始频率为fj的截取的部分参考谱在频率fi位置处的值,g(fi)为测量谱在频率fi位置处的值,其中和分别为截取的部分参考谱和测量谱的平均值;

步骤五、改变截取的部分参考谱的初始频率fj,截取不同的参考谱部分,并依次计算其与测量谱的相关系数,当相关系数为最大时,此时测量谱的移动值即为此时光纤布里渊频移的改变值fBSfBS=f-argfjmaxC(fj).]]>

3.根据权利要求2所述的用于准确测量布里渊谱的频移的最大相似匹配分析方法,其特征在于,所述步骤一中测量参考谱为进行测量次数大于等于1000次后取平均值得到的参考谱。

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