[发明专利]一种片式多层陶瓷电容器用低损耗微波介质陶瓷材料有效
申请号: | 201410165957.1 | 申请日: | 2014-04-23 |
公开(公告)号: | CN103964847A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 李玲霞;蔡昊成;高正东;孙浩;陈俊晓;吕笑松 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | C04B35/495 | 分类号: | C04B35/495;C04B35/622 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 张宏祥 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多层 陶瓷 电容 器用 损耗 微波 介质 陶瓷材料 | ||
1.一种片式多层陶瓷电容器用低损耗微波介质陶瓷材料,其化学式为Zn3(Nb0.8Ta0.2)2O8;
该片式多层陶瓷电容器用低损耗微波介质陶瓷材料的制备方法,具有以下步骤:
(1)将化学原料ZnO、Nb2O5、Ta2O5分别按Zn3(Nb0.8Ta0.2)2O8化学计量比称量配料;
(2)将步骤(1)配置好的化学原料混合,放入球磨罐中,加入氧化锆球和去离子水,球磨2~6小时,再将球磨后的原料于红外干燥箱中烘干,过筛;
(3)将步骤(2)过筛后混合均匀的粉料于900℃煅烧,保温4小时合成前驱体;
(4)在步骤(3)的前驱体中外加质量百分比为0.95~1.35%聚乙烯醇,放入球磨罐中,再加入氧化锆球和去离子水,球磨5~10小时,烘干后过筛,再用粉末压片机压力成型为坯体;
(5)将坯体于1100~1180℃烧结,保温4~6小时,制成片式多层陶瓷电容器用低损耗微波介质陶瓷材料;
(6)采用网络分析仪测试微波介质陶瓷材料的微波介电性能。
2.根据权利要求1所述的一种片式多层陶瓷电容器用低损耗微波介质陶瓷材料,其特征在于,所述步骤(1)的化学原料的纯度大于99.9%。
3.根据权利要求1所述的一种片式多层陶瓷电容器用低损耗微波介质陶瓷材料,其特征在于,所述步骤(4)的粉末压片机以5~9MPa的压力成型,坯体为Φ10mm×5mm的圆柱体。
4.根据权利要求1所述的一种片式多层陶瓷电容器用低损耗微波介质陶瓷材料,其特征在于,所述步骤(5)优选的烧结温度为1160℃。
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