[发明专利]集成电路与测试装置的改良的接触

说明书

一种用于测试集成电路的接触测试装置。该装置包括具有相面对的表面的壳体，和一个或多个在所述表面之间延伸穿过壳体的槽。在测试装置使用中第一表面接近被测试的集成电路，以及第二表面在测试站点靠近载板。接触件收纳在槽中，每个接触件具有与集成电路设备的引线接合的第一端。每个接触件的第二端与相应的端子接合。每个接触件在由IC的相应引线脱离接合的第一方向和与IC相应引线接合IC的第二方向之间移动并被推进槽里。弹性体使接触件在它的第一方向上偏斜。当接触件在第一方向和第二方向之间移动时，它不是滑动地穿过载板端子。

本申请是申请日为2004年4月23日，申请号为200410043057.6，名为“集成电路与测试装置的改良的接触”的申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种连接器装置，该连接器装置可实现IC测试装置和集成电路的连接。更具体地，本发明提供一种电连接系统，该系统促进测试（DUT）下的IC设备和测试装置载板之间的正连接和应用在电流测试装置中的非常小的连接件的正约束。

背景技术

已经发明了许多用来快速地临时地将被测试设备中的集成电路引线连接到测试器的载板上的不同的测试站点结构。自动测试装置具体地采用许多这样的结构。一装置通过对设置于IC的引线和载板之间的接触件施加压力，从而使接触件的探针梢变形并且与载板上的垫片接合。另一装置采用由IC提供的接合力以转动装配在槽里的接触件，从而克服弹性组件对接触件造成的位置偏斜。当IC和测试站点一起采用时，接触件被IC接合的一端的另一端接触载板的垫片。

这样的结构提供DUT的引线和测试装置的相应引线之间的正连接，以及依靠DUT和测试站点之间的最初接合而确保正连接。

因此，期望提供一种系统，该系统提供除了由DUT和测试装置的最初接合力以外提供一附加的预定力，以更好地保证正电连接。进一步地，期望在DUT和测试站点之间不需要过多的力。

当前的发明需要解决现有技术中的这些要求。本发明就提供了可以适应这些要求的装置。

发明内容

本发明是一种设置在壳体中的小插针接触器装置，用以促使将集成电路的引线连接到载板的相应的端子上。壳体典型地具有多个平行的槽，该槽用以接收多个相应的接触件，其中一个槽里有一个接触件。每个接触件具有从壳体一侧壁上的槽延伸的前端，和从壳体相对侧壁上的槽延伸的尾端。所述接触件通常是“S”形。前弹性体沿着通常垂直于槽的轴延伸穿过壳体，这样接触件的前端在前弹性体上弯曲。同样，后弹性体沿着通常垂直于槽的轴延伸，这样接触件的尾端在后弹性体周围弯曲。

接触件的前端具有弯曲的表面，以与集成电路的引线接合。接触件的尾端具有平面部分，用以与载板的端子垫片接合。

使用中，集成电路的引线将在所述弯曲表面与接触件的前端接合。这样将实现前弹性体的压缩。接触件相对于一弯曲表面转动，该弯曲表面是由通过尾部的轴确定的。靠近所述弯曲表面的尾端的直线接触表面平行并与载板的端子垫片相接合。该接触件结构可以充分地消除接触件相对于载板端子垫片的滑动，由于接触件的卷起，接触件与端子垫片的接合部分向前移动，同时防止了尾端和端子垫片之间的滑动。

接触件尾端的端子也具有与壳体侧壁接合的表面。通过维持接触件相对于壳体的位置，该表面可以完全防止接触件沿着载板的端子滑动。促进接触件的尾端进入壳体壁并将接触件安置在壁上，前弹性体在这方面起着重要的作用。

本发明是这样一种接触件装置组件，其解决了现有技术中的许多问题。该装置能够沿着电路线建立正接触，还可以使载板12引线的腐蚀最少。

附图说明

结合附图参考下面的描述，本发明的目的和特征对本领域技术人员来说将是更明显的，附图中同样的附图标记表示同一部分或特征，其中附图是本发明的截面图。

具体实施方式