[发明专利]一种大晶粒取向硅钢的织构测量方法

权利要求书

1.一种大晶粒取向硅钢的织构测量方法，其特征在于：包括如下步骤：

1）二次再结晶退火后，切取一定大小的取向硅钢试样（1），标示出取向硅钢试样（1）上的晶界线，并将各个晶粒编号；

2）将取向硅钢试样（1）拍摄成照片，采用图像分析仪测量出照片中各晶粒的面积S_i晶粒，其中，S_i晶粒表示第i个晶粒的面积；

3）采用电子背散射衍射方法测量出取向硅钢试样（1）中每个晶粒的取向（hkl）［UVW］，计算出每个晶粒与理想的高斯晶粒之间存在的取向偏离角；

4）将图像分析仪测量的各晶粒的面积S_i晶粒除以整个取向硅钢试样（1）的面积S_试样所得值作为每个晶粒的权重W_i即W_i=S_i晶粒/S_试样，再分别乘以该晶粒的取向偏离角，并将所得的值定义为各晶粒的权重取向偏离角，最后将各晶粒的权重取向偏离角相加得到取向硅钢试样偏离角，完成测量过程。

2.根据权利要求1所述的大晶粒取向硅钢的织构测量方法，其特征在于：在步骤3）中，所述取向偏离角包括［001］晶向对轧向在轧面上的轧向偏离角α、［001］晶向对轧面的轧向倾角β和平均偏离角（α+β）/2；

在步骤4）中，将各晶粒的权重分别乘以该晶粒的轧向偏离角α、轧面倾角β和平均偏离角（α+β）/2即得到包括权重轧向偏离角W_iα_i、权重轧面倾角W_iβ_i和权重平均偏离角W_i（（α+β）/2）_i的权重取向偏离角，再将各晶粒同类别的权重偏离角相加，所得值ΣW_iα_i、ΣW_iβ_i和ΣW_i（（α+β）/2）_i即为包括α_试样、β_试样和（（α+β）/2）_试样的取向硅钢试样偏离角。

3.根据权利要求1或2所述的大晶粒取向硅钢的织构测量方法，其特征在于：在步骤3）中，先将步骤1）中切取的取向硅钢试样（1）分割成若干个小片，再采用电子背散射衍射方法测量各小片中每个晶粒的取向（hkl）［UVW］。

4.根据权利要求3所述的大晶粒取向硅钢的织构测量方法，其特征在于：在步骤1）中，取向硅钢试样（1）大小为300mm×30mm，在步骤3）中，每个小片大小为30mm×30mm。

5.根据权利要求1或2所述的大晶粒取向硅钢的织构测量方法，其特征在于：在步骤1）中，用彩色笔标示出取向硅钢试样上（1）的晶界线。