[发明专利]用于荧光测量的具有可互换光学盒的扫描系统有效
申请号: | 201410138075.6 | 申请日: | 2014-04-08 |
公开(公告)号: | CN104142317B | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
发明(设计)人: | Y.C.蔡;T.H.李;I.L.钟;W.-Y.李 | 申请(专利权)人: | 安捷伦科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人: | 封新琴 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 荧光 测量 具有 互换 光学 扫描 系统 | ||
1.一种用于对多孔孔板执行荧光测量的荧光测量系统,所述多孔孔板具有以矩形阵列布置的孔,所述矩形阵列具有第一轴和与所述第一轴垂直的第二轴,所述系统包括:
主机装置,包括:
安置所述孔板的孔板容座;以及
包括光学盒容座的台,所述光学盒容座在与由所述孔板容座容纳的孔板的第一轴平行的第一方向上伸长,所述光学盒容座在其表面上包括电连接器,其中所述台和所述孔板容座中的至少一个相对于所述台和所述孔板容座中的另一个在与所述孔板和所述孔板的第二轴平行的第二方向上是可移动的,用于指定一组孔;
自包含的、多通道光学盒,其被配置为与所述光学盒容座接合并在指定组的孔上执行同时荧光测量,所述光学盒包括:
光学组件沿所述第一方向的线性阵列,所述光学组件中的每一个包括生成用于向所述孔板的相应孔输出的激发光的相应激发光源,以及响应于从所述孔板的相应孔接收到的发射光生成发射光强度信号的相应发射光检测器,
存储器,其存储所述光学组件中的每一个的相应校准信息,以及
电连接器,其电耦接到所述存储器和所述光学组件中的每一个,并且被配置为连接到所述光学盒容座的电连接器;
其中所述主机装置还包括使用从用于所述光学组件的光学盒接收到的相应校准信息来校正从所述光学盒的每一个光学组件接收到的发射光强度信号的处理器,
其中“自包含”的含义在于当光学盒安装在主机装置的光学盒容器中的任何一个时,光学盒的电光性能独立于主机装置,自包含的光学盒可独立于与光学盒一起使用的任何主机装置而校准。
2.如权利要求1所述的系统,其中:
所述光学盒容座是第一光学盒容座;
所述台还包括在所述第二方向上从所述第一光学盒容座偏移的第二光学盒容座;以及
所述光学盒被配置为与所述光学盒容座中的任何一个接合。
3.如权利要求2所述的系统,其中:
所述光学盒是第一光学盒;
所述系统还包括第二光学盒;以及
所述第一光学盒和所述第二光学盒各自被配置为与所述光学盒容座中的任何一个接合。
4.如权利要求1所述的系统,其中所述台相对于所述孔板容座在所述第二方向上移动。
5.如权利要求1所述的系统,其中所述光学组件中的每一个还包括:
分束器;
在所述激发光源和所述分束器之间的准直透镜和激发光带通滤波器;以及
在所述发射光检测器和所述分束器之间的聚焦透镜和发射光带通滤波器。
6.如权利要求5所述的系统,其中所述分束器透射所述发射光并且反射所述激发光。
7.如权利要求5所述的系统,其中所述分束器反射所述发射光并且透射所述激发光。
8.如权利要求5所述的系统,其中所述分束器是分色分束器。
9.如权利要求5所述的系统,其中所述激发光带通滤波器和所述发射光带通滤波器具有相应的通带,所述通带具有彼此不同的相应中心波长。
10.如权利要求5所述的系统,其中:
所述光学盒是第一光学盒;以及
所述系统还包括第二自包含的、多通道光学盒,其被配置为与所述光学盒容座中的任何一个接合,并且包括光学组件的线性阵列,所述第二光学盒的光学组件与所述第一光学盒的光学组件的不同之处在于所述第二光学盒的激发光带通滤波器和发射光带通滤波器中的至少一个与所述第一光学盒的激发光带通滤波器和发射光带通滤波器中的对应一个的中心波长不同。
11.如权利要求10所述的系统,其中所述第一光学盒和所述第二光学盒与所述台中的相应光学盒容座接合。
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