[发明专利]晶体管输出电阻频散特性的测量方法及系统

权利要求书

1.一种晶体管输出电阻频散特性的测量方法，其特征在于，包括：

为晶体管的栅极提供负向偏置电压；

为晶体管的漏极提供正向偏置电压和交流信号；

获取晶体管在所述交流信号为选定频率下的输出电阻；

获取所述输出电阻与所述交流信号的选定频率之间的对应关系，以得到所述晶体管输出电阻频散特性。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对所述交流信号进行抗所述正向偏置电压干扰的处理。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对所述正向偏置电压进行隔离所述交流信号的处理。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述交流信号的幅值小于等于500毫伏。

5.根据权利要求1或4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述交流信号的选定频率在20Hz至200KHz之间选择。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取晶体管在所述交流信号为选定频率下的输出电阻包括：

获取所述晶体管的漏极与源极之间的漏源电压；

利用采样电阻获取所述晶体管的漏极与源极之间的漏源电流；

根据所述晶体管的漏源电压和漏源电流，获取所述晶体管在所述交流信号为选定频率下的输出电阻。

7.一种晶体管输出电阻频散特性的测量系统，其特征在于，包括：

第一直流电源模块，用于为晶体管的栅极提供负向偏置电压；

第二直流电源模块，用于为晶体管的漏极提供正向偏置电压；

交流信号输出模块，用于为晶体管的漏极提供交流信号；

输出电阻测量模块，用于获取晶体管在所述交流信号为选定频率下的输出电阻；以及，

频散特性输出模块，用于获取所述输出电阻与所述交流信号的选定频率之间的对应关系，以得到所述晶体管输出电阻频散特性。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

抗干扰模块，用于对所述交流信号进行抗所述正向偏置电压干扰的处理。

9.根据权利要求7或8所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

隔离模块，用于对所述正向偏置电压进行隔离所述交流信号的处理。

10.根据权利要求7所述的系统，所述输出电阻测量模块包括：

第一电压测量单元，用于获取所述晶体管的漏极与源极之间的漏源电压；

第二电压测量单元，用于利用采样电阻获取所述晶体管的漏极与源极之间的漏源电流；以及，

输出电阻计算单元，用于根据所述晶体管的漏源电压和漏源电流，获取所述晶体管在所述交流信号为选定频率下的输出电阻。