[发明专利]一种用于多模块芯片的双向IO复用方法及电路有效
| 申请号: | 201410134049.6 | 申请日: | 2014-04-03 |
| 公开(公告)号: | CN103955559B | 公开(公告)日: | 2017-06-16 |
| 发明(设计)人: | 汪金辉;梁倩;侯立刚;张俊腾;宫娜 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
| 主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;G06F13/38 |
| 代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司11203 | 代理人: | 沈波 |
| 地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 模块 芯片 双向 io 方法 电路 | ||
技术领域
本发明涉及芯片设计领域,更具体的说,本发明涉及一种能够减少芯片中IO的数量和节省芯片面积的双向IO复用方法及电路。
背景技术
随着集成电路技术的不断进步,集成电路的复杂度不断增加,功能不断完善,单个芯片中所集成的元件数从最初的十几个发展到目前的几亿个甚至几十亿个,造成芯片面积不断增大,进而影响了集成电路产业的进一步发展。
目前集成电路设计面临两种面积瓶颈,一种是核心限制(core limited),也就是除IO以外的芯片内部电路面积过大;另一种是IO限制(pad limited),即外围IO所占面积过大,从而限制了芯片的有效使用面积。IO限制主要是由于芯片功能的不断增加,导致大规模数字集成电路的输入和输出管脚不断增多,每个管芯少则需要几十个IO,多则需要几百个IO。这些IO占用了大量的面积,有时甚至大于内部核心电路所占面积,从而大大增加了芯片的成本,并降低了测试效率。同时,日益增加的IO数量以及版图面积将导致互联线变得更为复杂,进而影响电路的性能。
伴随着芯片功能的不断完善,在目前大规模数字集成电路芯片中,尤其是在成批次流片前的测试芯片(Test Chip)中,通常使用单向IO复用电路来提高芯片中IO的利用率。但是此种方法只适用于芯片中各模块拥有相同数量的输入和输出的情况,并且只能实现不同模块间输入与输出的分别复用,因此具有较大的局限性。
发明内容
本发明的目的在于提出一种可以应用于芯片中各模块具有不同管脚数量的新型双向IO复用电路,解决单向IO复用电路的局限性,提高IO的复用效率,从而达到减小IO所占面积和节约芯片制造成本的目的。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案为一种用于芯片中具有多个模块的双向IO复用电路,该电路包括分配器和选择器,其中端口分为三类即输入端口、输出端口、以及控制端口;输出端口与部分模块的输入端连接,当其中的一模块工作时,通过控制分配器中的控制位将IO输入的输入信号传至该模块;输入端口与其余模块的输出端连接,当其中某一模块工作时,通过控制选择器中的控制位,将该模块的输出信号传至IO输出;另外,复用电路中增加了支路,以避免上一状态选择器对下一状态分配器的影响。
一种用于芯片中具有多个模块的双向IO复用电路,对于拥有p(p≥2
)个模块的芯片,利用芯片中各模块不同时工作的特点,复用电路的结构如图1所示,其中1≤c<c+1≤n,1≤e<e+1≤p。此复用电路包括分配器和选择器,两者分别负责将输入信号分配至指定工作模块以及选择不同模块的输出信号;其中该电路的端口分为三类即输入端口、输出端口、以及控制端口;输出端口与模块N1至模块Ne的输入端连接,当模块N1至模块Ne中的某一模块工作时,通过控制分配器中的控制位M1至Mc,将IO输入的输入信号传至模块N1至模块Ne中的某一指定工作模块。输入端口与模块Ne+1至模块Np的输出端连接,当模块Ne+1至模块Np中的某一模块工作时,通过控制选择器中的控制位Mc+1至Mn,将模块Ne+1至模块Np中的某一指定工作模块的输出信号传至IO输出。另外,为了防止由于上一状态选择器的输出结果影响到下一状态分配器的输入数据,复用电路中增加了支路W,该支路的一端接芯片管脚,另一端接选择器。当模块N1至模块Ne中的一模块工作时,通过控制位M1至Mn,使选择器的输出结果恰好为此时模块N1至模块Ne中工作模块需要的输入数据,从而避免上述影响。
本方法的核心是在芯片中加入双向IO复用电路,同时在芯片中加入多个控制位信号,每个控制位信号可以输入1或0,通过所有控制位的不同输入组合选择IO复用电路需要服务的模块。通过此IO复用的方法,芯片中各个具有不同数量管脚且不同时工作的模块能够重复使用同一组管脚,提高了芯片管脚的使用率,最终减少管脚的数量并节约版图面积。
附图说明
图1为IO复用电路结构示意图。
图2为一输入三输出IO复用电路示意图。
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